BUILT IN SELF TEST FOR INPUT/OUTPUT CHARACTERIZATION

A test system (10) in an integrated circuit includes at least one boundary scan cell (12). The boundary scan cell includes a first storage element (16) and a second storage element (18) connected in series with the first storage element. The boundary scan cell also includes test logic (22) configured to provide a test completion signal indicative of completion of a respective test based on a comparison of an output of the first storage element relative to test value (TVALUE). The output of the first storage element is provided to the input of the second storage element unchanged during a first operating state and, depending on the test completion signal, an inverted version of the output of the first storage element can be provided to the input of the second storage element during a second operating state. A bi-directional element (30) is connected to receive the output of the second storage element and to feed the output of the second storage element back to an input of the first storage element. La présente invention concerne un système de test (10) dans un circuit intégré (IC) comportant au moins une cellule de balayage de la périphérie (BSC) (12). La cellule de balayage de la périphérie comporte un premier élément de stockage (16) et un second élément de stockage (18) connecté en série au premier élément de stockage. La cellule de balayage de la périphérie comporte également une logique d'essai (22) configurée pour fournir un signal de réalisation complète de test indiquant la réalisation complète d'un test respectif basé sur une comparaison d'une donnée de sortie du premier élément de stockage par rapport à une valeur de test (TVALUE). La donnée de sortie du premier élément de stockage est fournie à l'entrée du second élément de stockage sans modification lors d'un premier état de fonctionnement et, en fonction du signal de réalisation complète de test, une version inversée de la donnée de sortie du premier élément de stockage peut être fournie lors d'un second état de fonctionnement. Un élément bidirectionnel (30) est connecté pour recevoir la donnée de sortie du second élément de stockage et pour fournir la donnée de sortie du second élément de stockage en retour à une entrée du premier élément de stockage.