NON-CONTACT MEASUREMENT APPARATUS AND METHOD
A non-contact method and apparatus for inspecting an object. At least one first image of the object on which an optical pattern is projected, taken from a first perspective is obtained. At least one second image of the object on which an optical pattern is projected, taken from a second perspective...
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Format: | Patent |
Sprache: | eng ; fre |
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Zusammenfassung: | A non-contact method and apparatus for inspecting an object. At least one first image of the object on which an optical pattern is projected, taken from a first perspective is obtained. At least one second image of the object on which an optical pattern is projected, taken from a second perspective that is different to the first perspective is obtained. At least one common object feature in each of the at least one first and second images is then determined on the basis of an irregularity in the optical pattern as imaged in the at least one first and second images.
L'invention porte sur un procédé et sur un appareil sans contact destinés à examiner un objet. Au moins une première image de l'objet sur lequel un motif optique est projeté, prise à partir d'une première perspective, est obtenue. Au moins une seconde image de l'objet sur lequel un motif optique est projeté, prise à partir d'une seconde perspective, qui est différente de la première perspective, est obtenue. Au moins une caractéristique d'objet commune dans chacune des première et seconde images, ou plus, est ensuite déterminée sur la base d'une irrégularité dans le motif optique, tel qu'imagé dans les première et seconde images, ou plus. |
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