APPARATUS FOR MEASURING CHIP LEAKAGE CURRENT AND TEMPERATURE

The invention relates to an apparatus for measuring chip leakage current and temperature, having an output that varies linearly with temperature. The apparatus includes a leakage inverter and an electronic module which digitises and linearises the nonlinear output of the leakage inverter. The provision of a linear response reduces the requirements in terms of data interconnection and storage, as well as facilitating the digital representation of same. The apparatus can be used to measure temperature variations inside a chip and to measure leakage current variations, which also involves the measurement of static power variations inside a chip. Aparato para Ia medida de temperatura y corriente de fugas en un chip que proporciona una salida que varía linealmente con la temperatura. El aparato comprende un inversor de fugas y un módulo electrónico que digitaliza y linealiza la salida no lineal del inversor de fugas. Al proporcional una respuesta lineal se reducen las necesidades de almacenamiento e interconexión de los datos, además se facilita Ia representación numérica de los mismos. El aparato se puede usar para medir variaciones de temperatura dentro de un chip y también para medir variaciones de la corriente de fugas, lo que a su vez conlleva medir variaciones de potencia estática dentro de un chip. L'invention porte sur un appareil qui permet de mesurer la température et le courant de fuite sur une puce dont la sortie varie linéairement avec la température. L'appareil précité comprend un circuit de fuite et un module électronique qui numérise et linéarise la sortie non linéaire du circuit de fuite. En fournissant une réponse linéaire, on réduit les besoins en matière de stockage et d'interconnexion des données, et l'on permet en outre la représentation numérique de ces dernières. L'appareil de l'invention peut être utilisé pour mesurer des variations de température à l'intérieur d'une puce et pour mesurer aussi des variations du courant de fuite, et permet par conséquent de mesurer des variations de puissance statique à l'intérieur d'une puce.