DEVICE AND METHOD FOR LOCATING INHOMOGENEITIES IN A SAMPLE

Die Erfindung stellt eine Vorrichtung und ein Verfahren zur Lokalisierung von Inhomogenitäten in einer Probe zur Verfügung. Das Messprinzip beruht darauf, dass ein elektrisches Feld in die Probe eingebracht und die mechanische Antwort, insbesondere die elektrostriktive Antwort, der Probe auf dieses Feld gemessen wird. Inhomogenitäten in der Probe schwächen lokal das elektrische Feld und erniedrigen so dessen Symmetrie. Hierdurch werden die Beiträge einzelner Bereiche der Probe zur an einem gegebenen Messort gemessenen mechanischen Antwort in einer Weise geändert, die am Messort registriert werden kann. Das Messprinzip kann nicht nur in Form eines Rastersondenverfahrens und Rastersondenmikroskops verwirklicht werden, sondern auch ihm Rahmen der Online-Überwachung bruchgefährdeter technischer Bauteile. The invention relates to a device and to a method for locating inhomogeneities in a sample. The measurement principle is based on introducing an electric field into the sample and measuring the mechanical response, particularly the electrostrictive response, of the sample to said field. Inhomogeneities in the sample locally weaken the electric field and thereby lower the symmetry thereof. As a result, the contributions of individual regions of the sample to a mechanical response measured at a given measurement site are changed such that this can be recorded at the measurement site. The measurement principle can be implemented not only in the form of a scanning probe method and scanning probe microscope, but also as part of the online monitoring of technical components at risk of breakage. L'invention concerne un dispositif et un procédé de localisation d'inhomogénéités dans un échantillon. Le principe de la mesure consiste à introduire un champ électrique dans l'échantillon et à mesurer la réponse mécanique, en particulier la réponse électrostrictive, de l'échantillon à ce champ. Les inhomogénéités de l'échantillon affaiblissent localement le champ électrique, abaissant ainsi sa symétrie. Ceci a pour effet de modifier les contributions de zones individuelles de l'échantillon à une réponse mécanique, mesurée en un point de mesure donné, d'une manière qui peut être enregistrée au point de mesure. Le principe de la mesure peut être mis en oevre non seulement sous la forme d'un procédé utilisant une sonde locale et un microscope à sonde locale mais aussi dans le cadre d'une surveillance en ligne de pièces techniques à risque de fracture.