METHOD AND SYSTEM OF USING INFERENTIAL MEASUREMENTS FOR ABNORMAL EVENT DETECTION IN CONTINUOUS INDUSTRIAL PROCESSES

The present invention is a method and system for detecting an abnormal on-line analysis or laboratory measurement and for predicting an abnormal quality excursion due to an abnormal process condition. La présente invention concerne un procédé et un système pour détecter une analyse en ligne ou une m...

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	EMIGHOLZ, KENNETH, F
Format:	Patent
Sprache:	eng ; fre
Schlagworte:	CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL CONTROLLING FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS ORELEMENTS PHYSICS REGULATING
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Beschreibung
Zusammenfassung:	The present invention is a method and system for detecting an abnormal on-line analysis or laboratory measurement and for predicting an abnormal quality excursion due to an abnormal process condition. La présente invention concerne un procédé et un système pour détecter une analyse en ligne ou une mesure de laboratoire anormale, et pour prédire une excursion de qualité anormale due à un état de processus anormal.