A METHOD FOR EVALUATION OF A GEMSTONE

An apparatus for determining location of at least one inclusion in a gemstone having a first refractive index, comprising: a container adapted for containing a material having a second refractive index, a holder operative to support a gemstone in the material when the container contains the material...

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: SHEFFER, DAN, SHLEZINGER, HAIM, ZISKIND, RAN, EROSHOV, MICHAEL, HOROWITZ, GABI, DEVIR, ADAM
Format: Patent
Sprache:eng ; fre
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Beschreibung
Zusammenfassung:An apparatus for determining location of at least one inclusion in a gemstone having a first refractive index, comprising: a container adapted for containing a material having a second refractive index, a holder operative to support a gemstone in the material when the container contains the material; an illuminator positioned and adapted to illuminate said gemstone when disposed within said material in said container, with illumination at which said gemstone and said material have their respective first and second indices; a detector that detects illumination from the illuminated gemstone and said material and produces signals responsive thereto; a controller that receives the signals and is operative to determine a location of an inclusion in the gemstone based on the signals; and a system, operative to reduce the presence within said material, at least when the gemstone is disposed therein, of any substance other than inclusions, having a third refractive index. Appareil destiné à déterminer l'emplacement d'au moins une inclusion dans une pierre-gemme dotée d'un premier indice de réfraction, et comprenant : un contenant adapté pour contenir un matériau doté d'un second indice de réfraction, un support opérationnel pour supporter une pierre-gemme dans le matériau quand le contenant contient le matériau ; un système d'éclairage positionné et adapté pour éclairer ladite pierre-gemme lorsqu'elle est disposée dans ledit matériau dans ledit contenant, par le biais d'un éclairage où ladite pierre-gemme et ledit matériau ont leurs premier et second indices respectifs ; un détecteur qui détecte l'éclairage provenant de la pierre-gemme éclairée et dudit matériau et produit des signaux qui y sont sensibles ; un système de contrôle qui reçoit les signaux et qui agit pour déterminer un emplacement d'une inclusion dans la pierre-gemme sur la base desdits signaux ; et un système, permettant de réduire la présence dans ledit matériau, au moins quand la pierre-gemme est placée à l'intérieur, de toute substance autre que les inclusions, ayant un troisième indice de réfraction.