A METHOD AND APPARATUS FOR IMAGING AN LCD USING TERAHERTZ TIME DOMAIN SPECTROSCOPY
A method configured to investigate an LCD structure, the method comprising: irradiating an LCD structure with pulsed radiation having at least one frequency in the range from 40GHz to 100THz; detecting radiation which has been transmitted through or reflected by the structure; determining informatio...
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Format: | Patent |
Sprache: | eng ; fre |
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Zusammenfassung: | A method configured to investigate an LCD structure, the method comprising: irradiating an LCD structure with pulsed radiation having at least one frequency in the range from 40GHz to 100THz; detecting radiation which has been transmitted through or reflected by the structure; determining information about the structure by measuring a quantity at least related to the amplitude of the detected radiation.
L'invention concerne un procédé configuré pour examiner une structure de dispositif d'affichage à cristaux liquides (LCD), le procédé comportant les opérations consistant : à irradier une structure LCD avec un rayonnement pulsé ayant au moins une fréquence dans la plage de 40 GHz à 100 THz; à détecter le rayonnement qui a été transmis à travers la structure ou réfléchi par la structure; à déterminer des informations concernant la structure par la mesure d'une quantité au moins associée à l'amplitude du rayonnement détecté. |
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