METHOD AND APPARATUS FOR OBTAINING THE DISTANCE FROM AN OPTICAL MEASUREMENT INSTRUMENT TO AND OBJECT UNDER TEST

Systems and methods for measuring a distance from a reference plane of an optical measurement instrument to a reference plane of an optical device under test are disclose. In one embodiment, a system for measuring this distance includes an illumination system, an optical system, and optical sensor and a processor. The illumination system is configured or adapted to illuminate the object under test. The optical system is configured or adapted to receive light from the object under test and to produce an aberrated image. The optical sensor is configured or adapted to receive and sense the aberrated image. The processor determines the distance from the reference plane of the optical measurement instrument to the reference plane of the optical device based on an aspect of the aberrated image sensed by the optical sensor. L'invention concerne des systèmes et des procédés permettant de mesurer la distance entre le plan de référence d'un instrument de mesure optique et le plan de référence d'un dispositif optique testé. Dans une forme de réalisation, le système de mesure de cette distance comprend un système d'éclairage, un système optique, un capteur optique et un processeur. Le système d'éclairage est configuré ou conçu pour éclairer l'objet testé. Le système optique est configuré ou conçu pour recevoir la lumière provenant de l'objet testé et produire une image aberrante. Le capteur optique est configuré ou conçu pour recevoir et détecter l'image aberrante. Le processeur détermine la distance entre le plan de référence de l'instrument de mesure optique et le plan de référence du dispositif optique sur la base d'un aspect de l'image aberrante détectée par le capteur optique.