APPARATUS AND METHOD FOR OBTAINING A REFLECTANCE PROPERTY INDICATION OF A SAMPLE

A method for obtaining a reflectance property indication of a sample which includes making a reflectance measurement of the sample and correcting the reflectance measurement in order to obtain the reflectance property indication. The reflectance measurement represents an observed reflectance of the sample, the reflectance property indication represents a standardized reflectance of the sample, and correcting the reflectance measurement accounts for a difference between the standardized reflectance and the observed reflectance. An apparatus for making a reflectance measurement of a sample which includes a housing defining a viewing port, a temperature control mechanism for controlling the temperature within the interior of the housing, and an optical reflectometer contained within the interior of the housing. The reflectometer has a measurement direction and is movable within the housing so that the measurement direction can be selectively aligned with the viewing port. L'invention concerne un procédé pour obtenir une indication de propriété du facteur de réflexion d'un échantillon, lequel procédé comprend la prise de la mesure du facteur de réflexion de l'échantillon et la correction de la mesure du facteur de réflexion afin d'obtenir l'indication de propriété du facteur de réflexion. La mesure du facteur de réflexion représente le facteur de réflexion observé de l'échantillon, l'indication de propriété du facteur de réflexion représente le facteur de réflexion standardisé de l'échantillon, et la correction de la mesure du facteur de réflexion représente une différence entre le facteur de réflexion standardisé et le facteur de réflexion observé. L'invention concerne également un appareil pour effectuer la mesure du facteur de réflexion d'un échantillon qui comprend un boîtier définissant un orifice de visualisation, un mécanisme de commande de température pour commander la température à l'intérieur du boîtier, et un réflectomètre optique contenu à l'intérieur du boîtier. Le réflectomètre a une direction de mesure et est déplaçable à l'intérieur du boîtier de telle sorte que la direction de mesure peut être sélectivement alignée avec l'orifice de visualisation.