TEST APPARATUS, A SYSTEM AND A METHOD FOR THE BROAD-BAND EVALUATION OF THE RELATIVE DIELECTRIC CONSTANT OF LAMINATED MATERIALS FOR MICROWAVES
A system and a method for evaluating the relative dielectric constant of a laminated dielectric material are described, wherein: a waveguide device (26) is arranged to hold at least one slab (12) of dielectric material under test in a longitudinal arrangement, and a vector network analyzer (A) is co...
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Format: | Patent |
Sprache: | eng ; fre |
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Zusammenfassung: | A system and a method for evaluating the relative dielectric constant of a laminated dielectric material are described, wherein: a waveguide device (26) is arranged to hold at least one slab (12) of dielectric material under test in a longitudinal arrangement, and a vector network analyzer (A) is coupled to the waveguide device (26) to provide measurement data of the transmission coefficient (S21 parameter) of the device (26), and wherein the relative dielectric constant value of the dielectric material under test is determined by comparison of phase difference data indicative of the difference between the phase of the transmission coefficient in a first propagation condition in an empty guide, that is without the slab (12), and in a second propagation condition with the guide loaded, that is with the slab (12), with corresponding phase difference data calculated in accordance with a predetermined reference model of propagation in the device.
Système et méthode d'évaluation de la constant diélectrique relative d'un matériau diélectrique laminé selon lesquels: un dispositif de guide d'onde (26) est conçu pour maintenir au moins une plaque (12) de matériau diélectrique en cours d'essai selon un agencement longitudinal, et un analyseur de réseau vectoriel (A) qui est couplé au dispositif de guide d'onde (26) dans le but de produire des données de mesure du coefficient de transmission (paramètre S21) du dispositif (26); et où la valeur de la constante diélectrique relative est déterminée par comparaison entre des données de différence de phase correspondant à la différence entre la phase du coefficient de transmission dans une première condition de propagation dans un guide vide, c'est-à-dire sans plaque (12), et dans une seconde condition de propagation avec le guide chargé, c'est-à-dire avec la plaque (12), et des données de différence de phase correspondantes calculées selon un modèle de propagation de référence prédéterminé dans le dispositif. |
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