CALIBRATION STRUCTURES FOR DIFFERENTIAL SIGNAL PROBING
A plurality of calibration structures facilitate calibration of a probing system that includes a differential signal probe having a linear array of probe tips. La présente invention concerne un dispositif comprenant une pluralité de structures d'étalonnage pour faciliter l'étalonnage d...
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| Format: | Patent |
| Sprache: | eng ; fre |
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| Zusammenfassung: | A plurality of calibration structures facilitate calibration of a probing system that includes a differential signal probe having a linear array of probe tips.
La présente invention concerne un dispositif comprenant une pluralité de structures d'étalonnage pour faciliter l'étalonnage d'un système de sonde comportant un capteur de signal différentiel à réseau linéaire de points de test. |
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