TEST ACCESS PORT SWITCH

A Test Access Port (TAP) switch provides a centralized serial test interface between an electronic system and a resource external to the electronic system. The electronic system includes the TAP switch and a plurality of electronic circuit components, each electronic circuit component having a TAP coupled to the TAP switch. In one or more embodiments, the TAP switch comprises a first circuit configured to provide a clock signal to a selected one of the TAPs responsive to a selection code included in a serialized instruction, e.g., a code appended or prepended to the instruction. The TAP switch further comprises a second circuit comprising an instruction register (IR) configured to pass serialized instructions received by the TAP switch to the selected TAP and a third circuit configured to forward serialized data received from the selected TAP to an output of the TAP switch responsive to the selection code. L'invention concerne un commutateur de port d'accès de test (TAP) qui constitue une interface de test série centralisée entre un système électronique et des ressources extérieures au système électronique. Le système électronique inclut le commutateur de TAP et une pluralité d'éléments de circuits électroniques, chaque élément de circuit électronique présentant un TAP couplé au commutateur de TAP. Dans un ou plusieurs modes de réalisation, le commutateur de TAP comprend un premier circuit configuré de façon à fournir un signal d'horloge à un des TAP sélectionnés capable de répondre à un code de sélection inclus dans une instruction série, par exemple, un code placé avant ou après l'instruction. Le commutateur de TAP comprend de plus un deuxième circuit comportant un registre d'instruction (IR) configuré pour transmettre les instructions série reçues par le commutateur de TAP au TAP sélectionné et un troisième circuit configuré pour transmettre les données série reçues du TAP sélectionné vers une sortie du commutateur de TAP capable de répondre au code de sélection.