SUPER RESOLUTION MICROSCOPY

A microscope is described that achieves resolution below the diffraction limit by establishing a phase-variable transverse volumetric standing wave field at a sample. An ensemble of images of radiation emanating from the sample is recorded and processed to produce a super- resolution image. The proc...

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: LITTLETON, BRAD, SARAFIS, VASSILIOS, LONGSTAFF, DENNIS
Format: Patent
Sprache:eng ; fre
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Beschreibung
Zusammenfassung:A microscope is described that achieves resolution below the diffraction limit by establishing a phase-variable transverse volumetric standing wave field at a sample. An ensemble of images of radiation emanating from the sample is recorded and processed to produce a super- resolution image. The processing involves: forming a first image by halving an average of the ensemble of images; forming a second image by multiplying each image in the ensemble of images by the respective standing wave field; and calculating an average; and doubling the addition of the first image and the second image. L'invention décrit un microscope permettant d'obtenir une définition inférieure à la limite de diffraction en établissant un champ d'ondes stationnaires volumétriques transversales à phase variable au niveau d'un échantillon. Un ensemble d'images de radiation émanant de l'échantillon est enregistré et traité pour obtenir une image de supra définition. Le traitement englobe les éléments suivants : formation d'une première image en divisant par deux une moyenne de l'ensemble des images ; formation d'une seconde image en multipliant chaque image dans l'ensemble d'images par le champ d'ondes stationnaires respectif ; et calcul d'une moyenne ; et doublement de l'addition de la première image et la seconde image.