CAPACITANCE-TO-VOLTAGE CONVERSION METHOD AND APPARATUS
A method of capacitance-to-voltage conversion with an external sensor capacitor (CP) and a capacitance-to-voltage converter (14) implemented on an integrated readout circuit that includes a reference capacitor (CR) , a sampling capacitor (Cs) and a sampling amplifier (22) and which has input termina...
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Format: | Patent |
Sprache: | eng ; fre |
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Zusammenfassung: | A method of capacitance-to-voltage conversion with an external sensor capacitor (CP) and a capacitance-to-voltage converter (14) implemented on an integrated readout circuit that includes a reference capacitor (CR) , a sampling capacitor (Cs) and a sampling amplifier (22) and which has input terminals (16) to which the sensor capacitor (CP) is connected. The method comprises the steps of a) applying a reference voltage (Vref) to the series connected sensor capacitor (CP) and reference capacitor (CR) and charging the sampling capacitor (Cs) to the potential at the interconnection node (A) between the sensor capacitor (CP) and the reference capacitor (CR) , b) connecting the sampling capacitor (Cs) to inputs of the sampling amplifier. The method further comprises the steps of c) applying the reference voltage (Vref) to the series connected sensor capacitor (CP) and reference capacitor (CR) with a polarity opposite to that in step a) and charging the sampling capacitor (Cs) to the potential at the interconnection node (A) between the sensor capacitor (CP) and the reference capacitor (CR) and d) connecting the sampling capacitor (Cs) to the inputs of the sampling amplifier in a polarity opposite to that in step b).
L'invention concerne un procédé de conversion de capacité en tension utilisant un condensateur de détection extérieur (CP) et un convertisseur de capacité en tension (14) mis en oeuvre sur un circuit intégré de lecture qui comprend un condensateur de référence (CR), un condensateur d'échantillonnage (Cs) et un amplificateur d'échantillonnage (22) ainsi que des bornes d'entrée (16) auxquelles est connecté le condensateur de détection (CP). Ce procédé consiste : a) à appliquer une tension de référence (Vref) au condensateur de détection (CP) et au condensateur de référence (CR) montés en série et à charger le condensateur d'échantillonnage (Cs) sur le potentiel au niveau du noeud d'interconnexion (A) entre le condensateur de détection (CP) et le condensateur de référence (CR) ; b) à connecter le condensateur d'échantillonnage (Cs) à des entrées de l'amplificateur d'échantillonnage ; c) à appliquer la tension de référence (Vref) au condensateur de détection (CP) et au condensateur de référence (CR) montés en série avec une polarité opposée à celle de l'étape a) et à charger le condensateur d'échantillonnage (Cs) au potentiel au niveau du noeud d'interconnexion (A) entre le condensateur de détection (CP) et le condensateur de référence (CR) ; et d) à co |
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