MECHANICAL-ELECTRONIC SYSTEM FOR THE LASER MEASUREMENT OF THE THICKNESS OF MOVING SHEETS WITH PERPENDICULARITY CORRECTION

The invention relates to a mechanical-electronic system for the laser measurement of the thickness of moving sheets with perpendicularity correction. The inventive system comprises: a C-shaped head (1); two opposing laser sensors (4 and 8); three sonar sensors (3, 5 and 6) which are arranged in a triangle and which are fixed to the head (1) by means of a support (2); a control automaton and mechanical means for positioning the head (1) along a horizontal axis (x), a vertical axis (y), a rotational axis (r) and an angular axis (a), which are used to ensure that the beam from the laser sensors (4 and 8) is perpendicular to the surface of the material (7) of which the thickness (e) is to be measured. Sistema mecánico-electrónico para la medición por láser del espesor de láminas en movimiento con corrección de perpendicularidad. Consiste en un cabezal (1) en forma de "C", dos sensores láser (4) y (8) enfrentados, tres sensores sonar (3), (5) y (6) dispuestos en posición triangular y fijados al cabezal (1) mediante soporte (2), autómata de control y medios mecánicos para el posicionamiento del cabezal (1) según eje horizontal (x), eje vertical (y), eje rotacional (r) y eje angular (a), mediante los cuales se asegura la perpedicularidad del haz de los sensores láser (4) y (8) con respecto de la superficie del material (7) cuyo espesor (e) se desea medir. L'invention concerne un système mécanique-électronique de mesure par laser de l'épaisseur de plaques en mouvement avec correction de perpendicularité. Le système comprend une tête (1) en forme de "C", deux détecteurs laser (4) et (8) face à face, trois détecteurs sonar (3), (5) et (6) disposés en une position triangulaire et fixés à la tête (1) à l'aide du support (2), un automate de commande ainsi que des moyens mécaniques de positionnement de la tête (1) dans l'axe horizontal (x), l'axe vertical (y), l'axe de rotation (r) et l'axe angulaire (a), à l'aide desquels est assurée la perpendicularité du faisceau des détecteurs laser (4) et (8) par rapport à la surface du matériau (7) dont on veut mesurer l'épaisseur (e).