OPTICAL BENCH FOR A MASS SPECTROMETER SYSTEM
Mass spectrometer systems for measuring mass/charge ratios of analytes are described. A mass spectrometer system includes a vacuum flange, a PCB base plate coupled to the vacuum flange, and an ion optic assembly coupled to the PCB base plate. The PCB base plate may include signal-processing electron...
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|---|---|
| Format: | Patent |
| Sprache: | eng ; fre |
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| container_end_page | |
|---|---|
| container_issue | |
| container_start_page | |
| container_title | |
| container_volume | |
| creator | KIBELKA, GOTTFRIED, P., G SCHEIDEMANN, ADI, A MCGRAW, MARK, S LONG, CLARE, R |
| description | Mass spectrometer systems for measuring mass/charge ratios of analytes are described. A mass spectrometer system includes a vacuum flange, a PCB base plate coupled to the vacuum flange, and an ion optic assembly coupled to the PCB base plate. The PCB base plate may include signal-processing electronics. The system may include an electrical cable coupled to the PCB base plate for supplying power, control, and I/O to the ion optic assembly and the signal processing electronics. Alternatively, a mass spectrometer system includes a PCB base plate and an ion optic assembly. The PCB base plate has a sealant portion and an electrical portion. The ion optic assembly is coupled to the electrical portion. The system may include a vacuum housing for enclosing the ion optic assembly. The vacuum housing is coupled to the sealant portion of the PCB base plate for sustaining a vacuum while the system is in operation.
Cette invention concerne des systèmes à spectromètre de masse servant à mesurer des rapports masse/charge de mélanges à analyser. Un tel système à spectromètre comprend une bride sous vide, une plaque de base avec circuit imprimé couplée à la bride sous vide, et un ensemble optique à ions couplé à la plaque de base à circuit intégré. Ladite plaque de base peut comporter une électronique de traitement de signaux. Le système peut être assorti d'un câble électrique couplé à la plaque de base à circuit imprimé pour l'alimentation en courant, la commande et ou l'entrée/sortie du l'ensemble optique à ions et l'électronique de traitement de signaux. En variante, le système à spectromètre de masse de l'invention peut comporter une plaque de base à circuit imprimé et un ensemble optique à ions. La plaque de base à circuit imprimé comprend une partie d'étanchéité et une partie électrique. L'ensemble optique à ions est couplé à la partie électrique. Le système peut comporter un boîtier sous vide renfermant l'ensemble optique à ions. Ce boîtier sous vide, qui est couplé à la partie d'étanchéité de la plaque de base à circuit imprimé, maintient le vide pendant le fonctionnement du système. |
| format | Patent |
| fullrecord | <record><control><sourceid>epo_EVB</sourceid><recordid>TN_cdi_epo_espacenet_WO2006041567A3</recordid><sourceformat>XML</sourceformat><sourcesystem>PC</sourcesystem><sourcerecordid>WO2006041567A3</sourcerecordid><originalsourceid>FETCH-epo_espacenet_WO2006041567A33</originalsourceid><addsrcrecordid>eNrjZNDxDwjxdHb0UXBy9XP2UHDzD1JwVPB1DA5WCA5wdQ4J8vd1DXENUgiODA5x9eVhYE1LzClO5YXS3AzKbq4hzh66qQX58anFBYnJqXmpJfHh_kYGBmYGJoamZuaOxsbEqQIAIOImDw</addsrcrecordid><sourcetype>Open Access Repository</sourcetype><iscdi>true</iscdi><recordtype>patent</recordtype></control><display><type>patent</type><title>OPTICAL BENCH FOR A MASS SPECTROMETER SYSTEM</title><source>esp@cenet</source><creator>KIBELKA, GOTTFRIED, P., G ; SCHEIDEMANN, ADI, A ; MCGRAW, MARK, S ; LONG, CLARE, R</creator><creatorcontrib>KIBELKA, GOTTFRIED, P., G ; SCHEIDEMANN, ADI, A ; MCGRAW, MARK, S ; LONG, CLARE, R</creatorcontrib><description>Mass spectrometer systems for measuring mass/charge ratios of analytes are described. A mass spectrometer system includes a vacuum flange, a PCB base plate coupled to the vacuum flange, and an ion optic assembly coupled to the PCB base plate. The PCB base plate may include signal-processing electronics. The system may include an electrical cable coupled to the PCB base plate for supplying power, control, and I/O to the ion optic assembly and the signal processing electronics. Alternatively, a mass spectrometer system includes a PCB base plate and an ion optic assembly. The PCB base plate has a sealant portion and an electrical portion. The ion optic assembly is coupled to the electrical portion. The system may include a vacuum housing for enclosing the ion optic assembly. The vacuum housing is coupled to the sealant portion of the PCB base plate for sustaining a vacuum while the system is in operation.
Cette invention concerne des systèmes à spectromètre de masse servant à mesurer des rapports masse/charge de mélanges à analyser. Un tel système à spectromètre comprend une bride sous vide, une plaque de base avec circuit imprimé couplée à la bride sous vide, et un ensemble optique à ions couplé à la plaque de base à circuit intégré. Ladite plaque de base peut comporter une électronique de traitement de signaux. Le système peut être assorti d'un câble électrique couplé à la plaque de base à circuit imprimé pour l'alimentation en courant, la commande et ou l'entrée/sortie du l'ensemble optique à ions et l'électronique de traitement de signaux. En variante, le système à spectromètre de masse de l'invention peut comporter une plaque de base à circuit imprimé et un ensemble optique à ions. La plaque de base à circuit imprimé comprend une partie d'étanchéité et une partie électrique. L'ensemble optique à ions est couplé à la partie électrique. Le système peut comporter un boîtier sous vide renfermant l'ensemble optique à ions. Ce boîtier sous vide, qui est couplé à la partie d'étanchéité de la plaque de base à circuit imprimé, maintient le vide pendant le fonctionnement du système.</description><language>eng ; fre</language><subject>BASIC ELECTRIC ELEMENTS ; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS ; ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS ; ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR ; ELECTRICITY ; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS ; PERFORMING OPERATIONS ; PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL ; PRINTED CIRCUITS ; SEPARATION ; TRANSPORTING</subject><creationdate>2007</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20070426&DB=EPODOC&CC=WO&NR=2006041567A3$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,780,885,25564,76547</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&date=20070426&DB=EPODOC&CC=WO&NR=2006041567A3$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>KIBELKA, GOTTFRIED, P., G</creatorcontrib><creatorcontrib>SCHEIDEMANN, ADI, A</creatorcontrib><creatorcontrib>MCGRAW, MARK, S</creatorcontrib><creatorcontrib>LONG, CLARE, R</creatorcontrib><title>OPTICAL BENCH FOR A MASS SPECTROMETER SYSTEM</title><description>Mass spectrometer systems for measuring mass/charge ratios of analytes are described. A mass spectrometer system includes a vacuum flange, a PCB base plate coupled to the vacuum flange, and an ion optic assembly coupled to the PCB base plate. The PCB base plate may include signal-processing electronics. The system may include an electrical cable coupled to the PCB base plate for supplying power, control, and I/O to the ion optic assembly and the signal processing electronics. Alternatively, a mass spectrometer system includes a PCB base plate and an ion optic assembly. The PCB base plate has a sealant portion and an electrical portion. The ion optic assembly is coupled to the electrical portion. The system may include a vacuum housing for enclosing the ion optic assembly. The vacuum housing is coupled to the sealant portion of the PCB base plate for sustaining a vacuum while the system is in operation.
Cette invention concerne des systèmes à spectromètre de masse servant à mesurer des rapports masse/charge de mélanges à analyser. Un tel système à spectromètre comprend une bride sous vide, une plaque de base avec circuit imprimé couplée à la bride sous vide, et un ensemble optique à ions couplé à la plaque de base à circuit intégré. Ladite plaque de base peut comporter une électronique de traitement de signaux. Le système peut être assorti d'un câble électrique couplé à la plaque de base à circuit imprimé pour l'alimentation en courant, la commande et ou l'entrée/sortie du l'ensemble optique à ions et l'électronique de traitement de signaux. En variante, le système à spectromètre de masse de l'invention peut comporter une plaque de base à circuit imprimé et un ensemble optique à ions. La plaque de base à circuit imprimé comprend une partie d'étanchéité et une partie électrique. L'ensemble optique à ions est couplé à la partie électrique. Le système peut comporter un boîtier sous vide renfermant l'ensemble optique à ions. Ce boîtier sous vide, qui est couplé à la partie d'étanchéité de la plaque de base à circuit imprimé, maintient le vide pendant le fonctionnement du système.</description><subject>BASIC ELECTRIC ELEMENTS</subject><subject>CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS</subject><subject>ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS</subject><subject>ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR</subject><subject>ELECTRICITY</subject><subject>MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS</subject><subject>PERFORMING OPERATIONS</subject><subject>PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL</subject><subject>PRINTED CIRCUITS</subject><subject>SEPARATION</subject><subject>TRANSPORTING</subject><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>2007</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNrjZNDxDwjxdHb0UXBy9XP2UHDzD1JwVPB1DA5WCA5wdQ4J8vd1DXENUgiODA5x9eVhYE1LzClO5YXS3AzKbq4hzh66qQX58anFBYnJqXmpJfHh_kYGBmYGJoamZuaOxsbEqQIAIOImDw</recordid><startdate>20070426</startdate><enddate>20070426</enddate><creator>KIBELKA, GOTTFRIED, P., G</creator><creator>SCHEIDEMANN, ADI, A</creator><creator>MCGRAW, MARK, S</creator><creator>LONG, CLARE, R</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>20070426</creationdate><title>OPTICAL BENCH FOR A MASS SPECTROMETER SYSTEM</title><author>KIBELKA, GOTTFRIED, P., G ; SCHEIDEMANN, ADI, A ; MCGRAW, MARK, S ; LONG, CLARE, R</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-epo_espacenet_WO2006041567A33</frbrgroupid><rsrctype>patents</rsrctype><prefilter>patents</prefilter><language>eng ; fre</language><creationdate>2007</creationdate><topic>BASIC ELECTRIC ELEMENTS</topic><topic>CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS</topic><topic>ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS</topic><topic>ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR</topic><topic>ELECTRICITY</topic><topic>MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS</topic><topic>PERFORMING OPERATIONS</topic><topic>PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL</topic><topic>PRINTED CIRCUITS</topic><topic>SEPARATION</topic><topic>TRANSPORTING</topic><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>KIBELKA, GOTTFRIED, P., G</creatorcontrib><creatorcontrib>SCHEIDEMANN, ADI, A</creatorcontrib><creatorcontrib>MCGRAW, MARK, S</creatorcontrib><creatorcontrib>LONG, CLARE, R</creatorcontrib><collection>esp@cenet</collection></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext_linktorsrc</fulltext></delivery><addata><au>KIBELKA, GOTTFRIED, P., G</au><au>SCHEIDEMANN, ADI, A</au><au>MCGRAW, MARK, S</au><au>LONG, CLARE, R</au><format>patent</format><genre>patent</genre><ristype>GEN</ristype><title>OPTICAL BENCH FOR A MASS SPECTROMETER SYSTEM</title><date>2007-04-26</date><risdate>2007</risdate><abstract>Mass spectrometer systems for measuring mass/charge ratios of analytes are described. A mass spectrometer system includes a vacuum flange, a PCB base plate coupled to the vacuum flange, and an ion optic assembly coupled to the PCB base plate. The PCB base plate may include signal-processing electronics. The system may include an electrical cable coupled to the PCB base plate for supplying power, control, and I/O to the ion optic assembly and the signal processing electronics. Alternatively, a mass spectrometer system includes a PCB base plate and an ion optic assembly. The PCB base plate has a sealant portion and an electrical portion. The ion optic assembly is coupled to the electrical portion. The system may include a vacuum housing for enclosing the ion optic assembly. The vacuum housing is coupled to the sealant portion of the PCB base plate for sustaining a vacuum while the system is in operation.
Cette invention concerne des systèmes à spectromètre de masse servant à mesurer des rapports masse/charge de mélanges à analyser. Un tel système à spectromètre comprend une bride sous vide, une plaque de base avec circuit imprimé couplée à la bride sous vide, et un ensemble optique à ions couplé à la plaque de base à circuit intégré. Ladite plaque de base peut comporter une électronique de traitement de signaux. Le système peut être assorti d'un câble électrique couplé à la plaque de base à circuit imprimé pour l'alimentation en courant, la commande et ou l'entrée/sortie du l'ensemble optique à ions et l'électronique de traitement de signaux. En variante, le système à spectromètre de masse de l'invention peut comporter une plaque de base à circuit imprimé et un ensemble optique à ions. La plaque de base à circuit imprimé comprend une partie d'étanchéité et une partie électrique. L'ensemble optique à ions est couplé à la partie électrique. Le système peut comporter un boîtier sous vide renfermant l'ensemble optique à ions. Ce boîtier sous vide, qui est couplé à la partie d'étanchéité de la plaque de base à circuit imprimé, maintient le vide pendant le fonctionnement du système.</abstract><oa>free_for_read</oa></addata></record> |
| fulltext | fulltext_linktorsrc |
| identifier | |
| ispartof | |
| issn | |
| language | eng ; fre |
| recordid | cdi_epo_espacenet_WO2006041567A3 |
| source | esp@cenet |
| subjects | BASIC ELECTRIC ELEMENTS CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR ELECTRICITY MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS PERFORMING OPERATIONS PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL PRINTED CIRCUITS SEPARATION TRANSPORTING |
| title | OPTICAL BENCH FOR A MASS SPECTROMETER SYSTEM |
| url | https://sfx.bib-bvb.de/sfx_tum?ctx_ver=Z39.88-2004&ctx_enc=info:ofi/enc:UTF-8&ctx_tim=2024-12-19T17%3A06%3A36IST&url_ver=Z39.88-2004&url_ctx_fmt=infofi/fmt:kev:mtx:ctx&rfr_id=info:sid/primo.exlibrisgroup.com:primo3-Article-epo_EVB&rft_val_fmt=info:ofi/fmt:kev:mtx:patent&rft.genre=patent&rft.au=KIBELKA,%20GOTTFRIED,%20P.,%20G&rft.date=2007-04-26&rft_id=info:doi/&rft_dat=%3Cepo_EVB%3EWO2006041567A3%3C/epo_EVB%3E%3Curl%3E%3C/url%3E&disable_directlink=true&sfx.directlink=off&sfx.report_link=0&rft_id=info:oai/&rft_id=info:pmid/&rfr_iscdi=true |