OPTICAL BENCH FOR A MASS SPECTROMETER SYSTEM
Mass spectrometer systems for measuring mass/charge ratios of analytes are described. A mass spectrometer system includes a vacuum flange, a PCB base plate coupled to the vacuum flange, and an ion optic assembly coupled to the PCB base plate. The PCB base plate may include signal-processing electron...
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Format: | Patent |
Sprache: | eng ; fre |
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Zusammenfassung: | Mass spectrometer systems for measuring mass/charge ratios of analytes are described. A mass spectrometer system includes a vacuum flange, a PCB base plate coupled to the vacuum flange, and an ion optic assembly coupled to the PCB base plate. The PCB base plate may include signal-processing electronics. The system may include an electrical cable coupled to the PCB base plate for supplying power, control, and I/O to the ion optic assembly and the signal processing electronics. Alternatively, a mass spectrometer system includes a PCB base plate and an ion optic assembly. The PCB base plate has a sealant portion and an electrical portion. The ion optic assembly is coupled to the electrical portion. The system may include a vacuum housing for enclosing the ion optic assembly. The vacuum housing is coupled to the sealant portion of the PCB base plate for sustaining a vacuum while the system is in operation.
Cette invention concerne des systèmes à spectromètre de masse servant à mesurer des rapports masse/charge de mélanges à analyser. Un tel système à spectromètre comprend une bride sous vide, une plaque de base avec circuit imprimé couplée à la bride sous vide, et un ensemble optique à ions couplé à la plaque de base à circuit intégré. Ladite plaque de base peut comporter une électronique de traitement de signaux. Le système peut être assorti d'un câble électrique couplé à la plaque de base à circuit imprimé pour l'alimentation en courant, la commande et ou l'entrée/sortie du l'ensemble optique à ions et l'électronique de traitement de signaux. En variante, le système à spectromètre de masse de l'invention peut comporter une plaque de base à circuit imprimé et un ensemble optique à ions. La plaque de base à circuit imprimé comprend une partie d'étanchéité et une partie électrique. L'ensemble optique à ions est couplé à la partie électrique. Le système peut comporter un boîtier sous vide renfermant l'ensemble optique à ions. Ce boîtier sous vide, qui est couplé à la partie d'étanchéité de la plaque de base à circuit imprimé, maintient le vide pendant le fonctionnement du système. |
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