DOUBLE SIDED PROBING STRUCTURES
A test configuration for dour e sided probing of a device under test includes a holder to secure the device under test in a first orientation, a calibration substrate secured in a second orientation and a probe capable of calibration using the calibration substrate and probing the device under test....
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| Format: | Patent |
| Sprache: | eng ; fre |
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| Zusammenfassung: | A test configuration for dour e sided probing of a device under test includes a holder to secure the device under test in a first orientation, a calibration substrate secured in a second orientation and a probe capable of calibration using the calibration substrate and probing the device under test.
L'invention concerne une configuration de test pour sonder les deux côtés d'un dispositif à tester. Cette configuration comprend un dispositif de maintien pour fixer le dispositif à tester dans une première orientation, un substrat de calibrage fixé dans une seconde orientation, et une sonde permettant un calibrage, faisant appel au substrat de calibrage et permettant de sonder le dispositif à tester. |
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