SYSTEMS AND METHODS FOR USING LIGHT TO INDICATE DEFECT LOCATIONS ON A COMPOSITE STRUCTURE

A method for using light to indicate locations of flaws and defects on a composite structure generally includes electronically accessing positional data defining one or more defect locations on a composite structure. The positional data can be extracted from a part fabrication file in which resides...

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Hauptverfasser: ENGELBART, ROGER, W, SPENO, FRANK, G
Format: Patent
Sprache:eng ; fre
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creator ENGELBART, ROGER, W
SPENO, FRANK, G
description A method for using light to indicate locations of flaws and defects on a composite structure generally includes electronically accessing positional data defining one or more defect locations on a composite structure. The positional data can be extracted from a part fabrication file in which resides numerical control (NC) data that can be used by a material placement machine to fabricate the composite structure. The method also includes automatically causing at least one light source to direct light at the composite structure to indicate the defect locations as defined by the positional data. Accordingly, the light allows the defect locations to be readily ascertained for later action, such as manual defect repair and/or FOD removal by an operator. L'invention concerne un procédé d'utilisation de lumière destiné à indiquer des emplacements d'anomalies ou de défauts sur une structure composite qui consiste en général à accéder de manière électronique à des données de position définissant un ou plusieurs emplacements de défauts sur une structure composite. Les données de position peuvent être extraites d'un fichier de fabrication particulier dans lequel se situent des données de commande numérique (NC) qui peuvent être utilisées par une machine de positionnement de matériau afin que soit fabriquée la structure composite. Ledit procédé consiste également à amener automatiquement au moins une source lumineuse à diriger de la lumière sur la structure composite de manière à indiquer les emplacements de défauts tels que définis par les données de position. Ainsi, la lumière permet de déterminer facilement les emplacements de défauts en vue d'un traitement ultérieur, de type réparation manuelle du défaut et/ou extraction d'objets étrangers et de débris (FOD) par un opérateur.
format Patent
fullrecord <record><control><sourceid>epo_EVB</sourceid><recordid>TN_cdi_epo_espacenet_WO2005101144A2</recordid><sourceformat>XML</sourceformat><sourcesystem>PC</sourcesystem><sourcerecordid>WO2005101144A2</sourcerecordid><originalsourceid>FETCH-epo_espacenet_WO2005101144A23</originalsourceid><addsrcrecordid>eNqNikEKwjAQAHPxIOofFjwLba0PCMmmDbRZyW6QnkqReBIt1P9jDz7A0zDMbNXAAwv2DDpY6FFasgyOIiT2oYHON62AEPhgvdGCYNGhEehoNU-BgQJoMNRfif3aWWIykiLu1eYxPZd8-HGnjg7FtKc8v8e8zNM9v_JnvFFVFJeyKMu61tX5v-sL4JYyVw</addsrcrecordid><sourcetype>Open Access Repository</sourcetype><iscdi>true</iscdi><recordtype>patent</recordtype></control><display><type>patent</type><title>SYSTEMS AND METHODS FOR USING LIGHT TO INDICATE DEFECT LOCATIONS ON A COMPOSITE STRUCTURE</title><source>esp@cenet</source><creator>ENGELBART, ROGER, W ; SPENO, FRANK, G</creator><creatorcontrib>ENGELBART, ROGER, W ; SPENO, FRANK, G</creatorcontrib><description>A method for using light to indicate locations of flaws and defects on a composite structure generally includes electronically accessing positional data defining one or more defect locations on a composite structure. The positional data can be extracted from a part fabrication file in which resides numerical control (NC) data that can be used by a material placement machine to fabricate the composite structure. The method also includes automatically causing at least one light source to direct light at the composite structure to indicate the defect locations as defined by the positional data. Accordingly, the light allows the defect locations to be readily ascertained for later action, such as manual defect repair and/or FOD removal by an operator. L'invention concerne un procédé d'utilisation de lumière destiné à indiquer des emplacements d'anomalies ou de défauts sur une structure composite qui consiste en général à accéder de manière électronique à des données de position définissant un ou plusieurs emplacements de défauts sur une structure composite. Les données de position peuvent être extraites d'un fichier de fabrication particulier dans lequel se situent des données de commande numérique (NC) qui peuvent être utilisées par une machine de positionnement de matériau afin que soit fabriquée la structure composite. Ledit procédé consiste également à amener automatiquement au moins une source lumineuse à diriger de la lumière sur la structure composite de manière à indiquer les emplacements de défauts tels que définis par les données de position. Ainsi, la lumière permet de déterminer facilement les emplacements de défauts en vue d'un traitement ultérieur, de type réparation manuelle du défaut et/ou extraction d'objets étrangers et de débris (FOD) par un opérateur.</description><edition>7</edition><language>eng ; fre</language><subject>CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL ; CONTROLLING ; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS ; INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES ; MEASURING ; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS ORELEMENTS ; PHYSICS ; REGULATING ; TESTING</subject><creationdate>2005</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20051027&amp;DB=EPODOC&amp;CC=WO&amp;NR=2005101144A2$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,778,883,25551,76302</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20051027&amp;DB=EPODOC&amp;CC=WO&amp;NR=2005101144A2$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>ENGELBART, ROGER, W</creatorcontrib><creatorcontrib>SPENO, FRANK, G</creatorcontrib><title>SYSTEMS AND METHODS FOR USING LIGHT TO INDICATE DEFECT LOCATIONS ON A COMPOSITE STRUCTURE</title><description>A method for using light to indicate locations of flaws and defects on a composite structure generally includes electronically accessing positional data defining one or more defect locations on a composite structure. The positional data can be extracted from a part fabrication file in which resides numerical control (NC) data that can be used by a material placement machine to fabricate the composite structure. The method also includes automatically causing at least one light source to direct light at the composite structure to indicate the defect locations as defined by the positional data. Accordingly, the light allows the defect locations to be readily ascertained for later action, such as manual defect repair and/or FOD removal by an operator. L'invention concerne un procédé d'utilisation de lumière destiné à indiquer des emplacements d'anomalies ou de défauts sur une structure composite qui consiste en général à accéder de manière électronique à des données de position définissant un ou plusieurs emplacements de défauts sur une structure composite. Les données de position peuvent être extraites d'un fichier de fabrication particulier dans lequel se situent des données de commande numérique (NC) qui peuvent être utilisées par une machine de positionnement de matériau afin que soit fabriquée la structure composite. Ledit procédé consiste également à amener automatiquement au moins une source lumineuse à diriger de la lumière sur la structure composite de manière à indiquer les emplacements de défauts tels que définis par les données de position. Ainsi, la lumière permet de déterminer facilement les emplacements de défauts en vue d'un traitement ultérieur, de type réparation manuelle du défaut et/ou extraction d'objets étrangers et de débris (FOD) par un opérateur.</description><subject>CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL</subject><subject>CONTROLLING</subject><subject>FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS</subject><subject>INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES</subject><subject>MEASURING</subject><subject>MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS ORELEMENTS</subject><subject>PHYSICS</subject><subject>REGULATING</subject><subject>TESTING</subject><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>2005</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNqNikEKwjAQAHPxIOofFjwLba0PCMmmDbRZyW6QnkqReBIt1P9jDz7A0zDMbNXAAwv2DDpY6FFasgyOIiT2oYHON62AEPhgvdGCYNGhEehoNU-BgQJoMNRfif3aWWIykiLu1eYxPZd8-HGnjg7FtKc8v8e8zNM9v_JnvFFVFJeyKMu61tX5v-sL4JYyVw</recordid><startdate>20051027</startdate><enddate>20051027</enddate><creator>ENGELBART, ROGER, W</creator><creator>SPENO, FRANK, G</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>20051027</creationdate><title>SYSTEMS AND METHODS FOR USING LIGHT TO INDICATE DEFECT LOCATIONS ON A COMPOSITE STRUCTURE</title><author>ENGELBART, ROGER, W ; SPENO, FRANK, G</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-epo_espacenet_WO2005101144A23</frbrgroupid><rsrctype>patents</rsrctype><prefilter>patents</prefilter><language>eng ; fre</language><creationdate>2005</creationdate><topic>CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL</topic><topic>CONTROLLING</topic><topic>FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS</topic><topic>INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES</topic><topic>MEASURING</topic><topic>MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS ORELEMENTS</topic><topic>PHYSICS</topic><topic>REGULATING</topic><topic>TESTING</topic><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>ENGELBART, ROGER, W</creatorcontrib><creatorcontrib>SPENO, FRANK, G</creatorcontrib><collection>esp@cenet</collection></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext_linktorsrc</fulltext></delivery><addata><au>ENGELBART, ROGER, W</au><au>SPENO, FRANK, G</au><format>patent</format><genre>patent</genre><ristype>GEN</ristype><title>SYSTEMS AND METHODS FOR USING LIGHT TO INDICATE DEFECT LOCATIONS ON A COMPOSITE STRUCTURE</title><date>2005-10-27</date><risdate>2005</risdate><abstract>A method for using light to indicate locations of flaws and defects on a composite structure generally includes electronically accessing positional data defining one or more defect locations on a composite structure. The positional data can be extracted from a part fabrication file in which resides numerical control (NC) data that can be used by a material placement machine to fabricate the composite structure. The method also includes automatically causing at least one light source to direct light at the composite structure to indicate the defect locations as defined by the positional data. Accordingly, the light allows the defect locations to be readily ascertained for later action, such as manual defect repair and/or FOD removal by an operator. L'invention concerne un procédé d'utilisation de lumière destiné à indiquer des emplacements d'anomalies ou de défauts sur une structure composite qui consiste en général à accéder de manière électronique à des données de position définissant un ou plusieurs emplacements de défauts sur une structure composite. Les données de position peuvent être extraites d'un fichier de fabrication particulier dans lequel se situent des données de commande numérique (NC) qui peuvent être utilisées par une machine de positionnement de matériau afin que soit fabriquée la structure composite. Ledit procédé consiste également à amener automatiquement au moins une source lumineuse à diriger de la lumière sur la structure composite de manière à indiquer les emplacements de défauts tels que définis par les données de position. Ainsi, la lumière permet de déterminer facilement les emplacements de défauts en vue d'un traitement ultérieur, de type réparation manuelle du défaut et/ou extraction d'objets étrangers et de débris (FOD) par un opérateur.</abstract><edition>7</edition><oa>free_for_read</oa></addata></record>
fulltext fulltext_linktorsrc
identifier
ispartof
issn
language eng ; fre
recordid cdi_epo_espacenet_WO2005101144A2
source esp@cenet
subjects CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL
CONTROLLING
FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS
INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
MEASURING
MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS ORELEMENTS
PHYSICS
REGULATING
TESTING
title SYSTEMS AND METHODS FOR USING LIGHT TO INDICATE DEFECT LOCATIONS ON A COMPOSITE STRUCTURE
url https://sfx.bib-bvb.de/sfx_tum?ctx_ver=Z39.88-2004&ctx_enc=info:ofi/enc:UTF-8&ctx_tim=2025-01-15T14%3A52%3A59IST&url_ver=Z39.88-2004&url_ctx_fmt=infofi/fmt:kev:mtx:ctx&rfr_id=info:sid/primo.exlibrisgroup.com:primo3-Article-epo_EVB&rft_val_fmt=info:ofi/fmt:kev:mtx:patent&rft.genre=patent&rft.au=ENGELBART,%20ROGER,%20W&rft.date=2005-10-27&rft_id=info:doi/&rft_dat=%3Cepo_EVB%3EWO2005101144A2%3C/epo_EVB%3E%3Curl%3E%3C/url%3E&disable_directlink=true&sfx.directlink=off&sfx.report_link=0&rft_id=info:oai/&rft_id=info:pmid/&rfr_iscdi=true