SYSTEMS AND METHODS FOR USING LIGHT TO INDICATE DEFECT LOCATIONS ON A COMPOSITE STRUCTURE

A method for using light to indicate locations of flaws and defects on a composite structure generally includes electronically accessing positional data defining one or more defect locations on a composite structure. The positional data can be extracted from a part fabrication file in which resides...

Ausführliche Beschreibung

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Hauptverfasser: ENGELBART, ROGER, W, SPENO, FRANK, G
Format: Patent
Sprache:eng ; fre
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Beschreibung
Zusammenfassung:A method for using light to indicate locations of flaws and defects on a composite structure generally includes electronically accessing positional data defining one or more defect locations on a composite structure. The positional data can be extracted from a part fabrication file in which resides numerical control (NC) data that can be used by a material placement machine to fabricate the composite structure. The method also includes automatically causing at least one light source to direct light at the composite structure to indicate the defect locations as defined by the positional data. Accordingly, the light allows the defect locations to be readily ascertained for later action, such as manual defect repair and/or FOD removal by an operator. L'invention concerne un procédé d'utilisation de lumière destiné à indiquer des emplacements d'anomalies ou de défauts sur une structure composite qui consiste en général à accéder de manière électronique à des données de position définissant un ou plusieurs emplacements de défauts sur une structure composite. Les données de position peuvent être extraites d'un fichier de fabrication particulier dans lequel se situent des données de commande numérique (NC) qui peuvent être utilisées par une machine de positionnement de matériau afin que soit fabriquée la structure composite. Ledit procédé consiste également à amener automatiquement au moins une source lumineuse à diriger de la lumière sur la structure composite de manière à indiquer les emplacements de défauts tels que définis par les données de position. Ainsi, la lumière permet de déterminer facilement les emplacements de défauts en vue d'un traitement ultérieur, de type réparation manuelle du défaut et/ou extraction d'objets étrangers et de débris (FOD) par un opérateur.