METHOD FOR THE ANALYSIS OF 1,1,1,2-TETRAFLUOROETHANE

Method for the analysis of the content of organic impurities in 1,1,1,2-tetrafluoroethane, in which (a) the 1,1,1,2-tetrafluoroethane is subjected to a gas chromatography operation and; (b) an operation is carried out in which the organic impurities are detected by mass spectrometry and wherein said...

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Hauptverfasser: KLUG, ROLAND, MAHAUT, YVES
Format: Patent
Sprache:eng ; fre
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Beschreibung
Zusammenfassung:Method for the analysis of the content of organic impurities in 1,1,1,2-tetrafluoroethane, in which (a) the 1,1,1,2-tetrafluoroethane is subjected to a gas chromatography operation and; (b) an operation is carried out in which the organic impurities are detected by mass spectrometry and wherein said method is carried out using the specific conditions appended hereto and/or said method is carried out making use of any of the quality control test or validation data included in the specification. L'invention concerne un procédé destiné à l'analyse d'impuretés organiques contenues dans du 1,1,1,2-tétrafluoroéthane, consistant (a) à soumettre le 1,1,1,2-tétrafluoroéthane à une opération de chromatographie en phase gazeuse et (b) à réaliser une opération dans laquelle les impuretés organiques sont détectées par spectrométrie de masse. Ce procédé est mis en oeuvre dans des conditions spécifiques et/ou à l'aide d'un essai de contrôle de la qualité ou de données de validation définis dans la description.