METHOD FOR DETERMINING A RESIDUAL DEFECTIVENESS AFTER TWO OR MORE NON-DISTRUCTIVE TESTS

The invention relates to non-distructive testing performed during the production, assembling and use of products. The aim of said invention is to increase the degree of reliability and to simplify the process for determining number of defects remaining in a product after several non-destructive test...

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: DRAGUNOV, YURI GRIGORIEVICH, TUTNOV, ALEXANDER ALEXANDROVICH, MAHUTOV, NIKOLAY ANDREEVICH, LUKASEVICH, BORIS IVANOVICH, GETMAN, VLADA ALEXANDROVNA, KALIBERDA, INNA VASILIEVNA, GETMANN, ALEXANDER FEDOROVICH, ZUBCHENKO, ALEXANDER STEPANOVICH, GUCEV, DMITRY FEDOROVICH, KONEV, YURI NIKOLAEVICH, KURAKOV, YURI ALEXANDROVICH, GRIGORIEV, MIKHAIL VLADIMIROVICH, PROSVIRIN, ANATOLY VLADIMIROVICH, LOVCHEV, VLADIMIR NIKOLAEVICH
Format: Patent
Sprache:eng ; fre ; rus
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Beschreibung
Zusammenfassung:The invention relates to non-distructive testing performed during the production, assembling and use of products. The aim of said invention is to increase the degree of reliability and to simplify the process for determining number of defects remaining in a product after several non-destructive testings. The inventive method for determining residual defectiveness after two or more non-distructive tests consists in determining the reliability of the used non-distructive testing method according to the probability of detection of defects occurring within certain ranges of the dimensions thereof j=1 m, in performing n non-distructive testings, wherein n>/=2, in determining, after each i-th non-distructive test, the number of defects occurred within a certain interval of dimensions thereof J-Nj,I, afterwards in correcting defects detected during said non-distructive testings and in determining by calculation the number of defects which occur within a certain interval of dimensions and remain in a product after the n-th non-distructive test, and corresponding correction of defects. In the second and third variants of the method, for determining residual defectiveness of a product, it is sufficient to determine the number of defects which are detected after the first non-distructive testing. L'invention se rapporte au contrôle non destructif (CND) dans le cadre de fabrication, de montage et d'exploitation d'articles. L'invention vise à simplifier la procédure de détermination du nombre de défectuosités qui restent dans l'article après plusieurs CND et d'en augmenter l'exactitude. Le procédé pour déterminer le taux de défectuosité rémanent après deux ou plusieurs contrôles non destructifs consiste à déterminer l'exactitude du procédé de CND utilisé sur la base de la probabilité de détection de défectuosités comprises dans des intervalles prédéterminées de leurs dimensions, j=1...m, à réaliser n CND, n >/= 2, et à déterminer après chaque i-ème contrôle non destructif le nombre de défectuosités qui font partie de l'intervalle de leurs dimensions j-Nj,i. On effectue la réparation des défectuosités détectées lors du CND en question, et le nombre de défectuosités qui entrent dans l'intervalle déterminé de dimensions j, qui restent dans le dispositif après le n-ième CND et la réparation des défectuosités, est déterminé par voie de calcul. Lorsqu'on détermine le taux de défectuosité dans les deuxième et troisième modes de réalisation du procédé il suffit de déterminer l