METHODS AND APPARATUS FOR LASER DICING
An apparatus and method of dicing a microelectronic device wafer by laser ablating at least an interconnected layer portion of the microelectronic device wafer in the presence of an anion plasma, wherein the anion plasma reacts with debris from the laser ablation to form a reaction gas. Dispositif e...
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Format: | Patent |
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Zusammenfassung: | An apparatus and method of dicing a microelectronic device wafer by laser ablating at least an interconnected layer portion of the microelectronic device wafer in the presence of an anion plasma, wherein the anion plasma reacts with debris from the laser ablation to form a reaction gas.
Dispositif et procédé de quadrillage d'une tranche pour dispositif micro-électronique consistant à retirer par ablation laser au moins une partie d'une couche d'interconnexion de ladite tranche en présence d'un plasma anionique, ledit plasma réagissant avec les débris produits par l'ablation laser pour former un gaz de réaction. |
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