MASS SPECTROMETER WITH LIGHT SOURCE AND/OR DIRECT CHARGE MEASURING

An analytical instrument such as a mass spectrometer may replace a filament with a light source, for example, a UV light source such as a UV-laser or UV-lamp to increase reliability and potentially reduce fragmentation, especially in the case of one-photon-ionization. The analytical instrument may replace a micro-channel based position sensitive ion detection with a direct charge measuring device, such as a shift register type strip charge detector or a micro-machined faraday cup detector array. L'invention concerne un instrument analytique, tel qu'un spectromètre de masse, dans lequel on peut remplacer un filament par une source lumineuse, par exemple, une source de lumière UV, telle qu'un laser UV ou une lampe UV, pour augmenter la fiabilité de l'instrument et réduire potentiellement la fragmentation, en particulier en ionisation monophotonique. En outre, une détection ionique à microcanaux, sensible à la position, peut être remplacée par un dispositif de mesure de charge directe, tel qu'un détecteur de charge à bande de type registre à décalage ou un réseau de collecteurs de Faraday micro-usiné.