CHUCK FOR HOLDING A DEVICE UNDER TEST

A chuck includes a conductive element that contacts a device under test in a location on the chuck. L'invention concerne un mandrin comprenant un élément conducteur qui est en contact avec un dispositif soumis à un essai à un emplacement sur le mandrin.

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	JONES, RODD, SPENCER, JEFF, NEWTON, DAVID, LORD, ANTHONY, DUNKLEE, JOHN, STEWART, CRAIG, LESHER, TIM, BURCHAM, TERRY, MCMANN, PETER
Format:	Patent
Sprache:	eng ; fre
Schlagworte:	MEASURING MEASURING ELECTRIC VARIABLES MEASURING MAGNETIC VARIABLES PHYSICS TESTING
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Beschreibung
Zusammenfassung:	A chuck includes a conductive element that contacts a device under test in a location on the chuck. L'invention concerne un mandrin comprenant un élément conducteur qui est en contact avec un dispositif soumis à un essai à un emplacement sur le mandrin.