MEMORY WITH BIT SWAPPING ON THE FLY AND TESTING

A memory controller and method that provide a read-refresh (also called "distributed-refresh") mode of operation, in which every row of memory is read within the refresh-rate requirements of the memory parts, with data from different columns within the rows being read on subsequent read-refresh cycles until all rows for each and every column address have been read, scrubbing errors if found, thus providing a scrubbing function that is integrated into the read-refresh operation, rather than being an independent operation. For scrubbing, an atomic read-correct-write operation is scheduled. A variable-priority, variable-timing refresh interval is described. An integrated card self-tester and/or card reciprocal-tester is described. A memory bit-swapping-within-address-range circuit, and a method and apparatus for bit swapping on the fly and testing are described. L'invention concerne un contrôleur de mémoire et un procédé faisant appel à un mode de fonctionnement lecture-rafraîchissement (également appelé "distribution-rafraîchissement") dans lequel chaque rangée de mémoire est lue dans les limites des exigences de fréquence de rafraîchissement des parties de mémoire, les données de différentes colonnes dans les rangées étant lues sur des cycles de lecture-rafraîchissement jusqu'à ce que toutes les rangées pour chaque adresse de colonne aient été lues, les éventuelles erreurs étant nettoyées, d'où l'obtention d'une fonction de nettoyage qui est intégrée dans l'opération de lecture-rafraîchissement au lieu d'être exécutée sous la forme d'une opération indépendante. Pour le nettoyage, une opération de lecture-correction-écriture atomique est planifiée. L'invention concerne également un intervalle de rafraîchissement à temporisation et à priorité variables, un dispositif d'autotest de carte et/ou un dispositif de test réciproque de carte intégré, un circuit de transfert de bits dans l'espace adressable, ainsi qu'un procédé et un dispositif de transfert de bits à la volée et de test.