APPARATUS AND METHOD FOR DETERMINING PHYSICAL PROPERTIES OF FERROELECTRIC SINGLE CRYSTAL USING SPECTROSCOPIC ELLIPSOMETRY

Described in the present invention are an apparatus for determining physical properties of a ferroelectric single crystal comprising a series of an optical device, a temperature controlling device and a computer, and a method of determining the dielectric constant or phase transition temperature of...

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	LEE, SANG-GOO, EUN, JAEHWAN, BANG, KYOUNG YOON, RHIM, SUNG MIN
Format:	Patent
Sprache:	eng ; fre
Schlagworte:	INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES MEASURING PHYSICS TESTING
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Beschreibung
Zusammenfassung:	Described in the present invention are an apparatus for determining physical properties of a ferroelectric single crystal comprising a series of an optical device, a temperature controlling device and a computer, and a method of determining the dielectric constant or phase transition temperature of the single crystal using said apparatus. La présente invention concerne un appareil permettant de déterminer des propriétés physiques d'un cristal unique ferroélectrique comprenant un ensemble qui englobe un dispositif optique, un dispositif de régulation thermique et un ordinateur. Cette invention a également trait à un procédé de détermination de la constante diélectrique ou de la température de transition de phase du cristal unique, à l'aide dudit appareil.