PROBE STATION WITH LOW INDUCTANCE PATH

A probe assembly suitable for high-current measurements of an electrical device. L'invention concerne un ensemble de sondes conçu pour des mesures de courant élevé d'un dispositif électrique.

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	DUNKLEE, JOHN, COWAN, CLARENCE, E
Format:	Patent
Sprache:	eng ; fre
Schlagworte:	MEASURING MEASURING ELECTRIC VARIABLES MEASURING MAGNETIC VARIABLES PHYSICS TESTING
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Beschreibung
Zusammenfassung:	A probe assembly suitable for high-current measurements of an electrical device. L'invention concerne un ensemble de sondes conçu pour des mesures de courant élevé d'un dispositif électrique.