FAST 3D HEIGHT MEASUREMENT METHOD AND SYSTEM

The present invention provides a Fast Moiré Interferometry (FMI) method and system for measuring the dimensions of a 3D object using only two images thereof. The method and the system perform the height mapping of the object or the height mapping of a portion of the object. The present invention can...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	CANTIN, MICHEL, QUIRION, BENOIT, NIKITINE, ALEXANDRE
Format:	Patent
Sprache:	eng ; fre
Schlagworte:	MEASURING MEASURING ANGLES MEASURING AREAS MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEARDIMENSIONS PHYSICS TESTING
Online-Zugang:	Volltext bestellen
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!

Beschreibung
Zusammenfassung:	The present invention provides a Fast Moiré Interferometry (FMI) method and system for measuring the dimensions of a 3D object using only two images thereof. The method and the system perform the height mapping of the object or the height mapping of a portion of the object. The present invention can be used to assess the quality of the surface of an object that is under inspection. It can also be used to evaluate the volume of the object under inspection. La présente invention concerne un procédé et un système d'interférométrie de Moiré rapide (FMI) permettant de mesurer les dimensions d'un objet tridimensionnel à l'aide de deux images seulement dudit objet. Ce procédé et ce système effectuent le mappage de hauteur de l'objet ou le mappage de hauteur d'une partie de l'objet. Cette invention peut servir à évaluer la qualité de la surface d'un objet en cours d'inspection. Cette invention peut également servir à estimer le volume de l'objet en cours d'inspection.