INTERFACE COMPRISING A THIN PCB WITH PROTRUSIONS FOR TESTING AN INTEGRATED CIRCUIT

The invention relates to a test device for testing an integrated circuit called circuit to be tested, comprising one of a plurality of housings in a printed circuit called main circuit. The device comprises an insulating membrane of soft material having two opposite surfaces covered by two conductive layers interconnected by via holes and intended to be in contact with the circuit to be tested and the main circuit respectively, under the influence of a pressure exerted during the test. Protrusions are arranged on at least one of the two layers in a predefined pattern as a function of pins, tabs, pads etc. of the circuit to be tested so as to ensure a contact quality between said layer and the circuit (to be tested or the main circuit) having contact with said layer under the influence of said pressing action. L'invention porte sur un dispositif d'essai d'un circuit intégré (dit circuit à tester), et comprenant une série de logements ménagés dans un circuit intégré (dit circuit principal). Le dispositif comporte une membrane isolante de matériau tendre dont les surfaces opposées sont revêtues chacune d'une couche conductrice reliées par des vias et entrant en contact et avec le circuit à tester, et avec le circuit principal, sous l'effet d'une pression exercée. Des saillies sont formées sur l'une au moins des deux couches selon un motif prédéfini en fonction des broches, des languettes et des plots du circuit à tester de manière à assurer un contact de qualité entre lesdites couches et le circuit principal et le circuit à tester sous l'effet de ladite pression exercée.