ELECTRONIC COLUMN NON-UNIFORMITY MEASUREMENT AND COMPENSATION

Column-to-column display variations active matrix displays are electrically evaluated using column test FETs (177) associated with each column conductor (177). An image signal value is applied to selected columns, and a column conductor voltage produced by application of the image signal value is measured. A comparator (111) switching time for the selected column can be estimated based on the column conductor (177) signal. A column correction value is based on the column conductor signal or the comparator (111) switching time. An active display evaluation system electrically measures comparator differences in one or more columns, and provides one or more display correction values or permits correction values to be revised based on current display properties. Selon l'invention, des afficheurs à matrice active à variations d'affichage de colonne à colonne sont évalués électriquement au moyen de TEC d'essai de colonne (177) associés à chaque conducteur de colonne (177). Une valeur de signal d'image est appliquée aux colonnes sélectionnées et une tension de conducteur de colonne produite par application de la valeur de signal d'image est mesurée. Un temps de commutation du comparateur (111) pour la colonne sélectionnée peut être estimé sur la base du signal du conducteur de colonne (177). Une valeur de correction de colonne est basée sur le signal de conducteur de colonne ou sur le temps de commutation du comparateur (111). Un système d'évaluation d'affichage actif mesure électriquement les différences de comparateur dans une ou plusieurs colonnes et produit une ou plusieurs valeurs de correction d'affichage ou permet la révision des valeurs de correction sur la base des propriétés d'affichage en cours.