METHOD AND APPARATUS FOR EFFICIENT SEMICONDUCTOR PROCESS EVALUATION

A method is described that involves automatically generating an Physical behavior curve from a process description; where, the process description describes a process. The method also involves automatically generating a device model for the process from the Physical behavior curve; where, the device model is represented in geometric form. The method also involves attempting to automatically generate, with the device model and with a geometric optimization sequence, a circuit design for the process. L'invention concerne un procédé consistant à générer automatiquement une courbe de conduite physique à partir d'une description de processus, ladite description décrivant un processus. Ledit procédé consiste également à générer automatiquement un modèle de dispositif destiné au processus à partir de la courbe de conduite physique, ledit modèle géométrique étant représenté sous forme géométrique. Le procédé consiste enfin à tenter de générer automatiquement une conception de circuit de processus au moyen du modèle de dispositif et d'une séquence d'optimisation géométrique.