BI-DIRECTIONAL MAGNETIC SAMPLE RACK CONVEYING SYSTEM
A magnetic sample rack adapted to support liquid containers is urged along a surface by means of a magnetic conveyor system located beneath the surface. The magnetic conveyor system comprises a plurality of magnetic housings driven by a belt, the magnetic housings including a magnet slideably contai...
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Format: | Patent |
Sprache: | eng ; fre |
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Zusammenfassung: | A magnetic sample rack adapted to support liquid containers is urged along a surface by means of a magnetic conveyor system located beneath the surface. The magnetic conveyor system comprises a plurality of magnetic housings driven by a belt, the magnetic housings including a magnet slideably contained in a closed upper cavity. Magnetic forces emanating from the magnet overcome frictional resistive forces between the sample racks and the operating surface and move the sample racks along input and output lanes defined in the operating surface. Abrupt movements of the sample racks are eliminated because the housing magnet slides smoothly towards the sample rack, secures the sample rack, and pulls the rack along the operating surface as the housings are moved at a steady rate by the belt.
L'invention concerne un support magnétique d'échantillons conçu pour supporter des récipients pour liquides, qui est déplacé le long d'une surface au moyen d'un système transporteur magnétique situé au-dessous de la surface. Ledit système transporteur magnétique comprend une pluralité de logements magnétiques entraînés par une courroie, ledit logement magnétique comprenant un aimant contenu de manière coulissante dans une cavité supérieure fermée. Des forces magnétiques émanant dudit aimant dépassent les forces résisitives frictionnelles entre le support d'échantillons et la surface fonctionnelle et déplacent lesdits supports d'échantillons le long des voies d'entrée et de sortie définies dans la surface fonctionnelle. Des mouvements brusques desdits supports d'échantillons sont éliminés par un glissement lent dudit aimant de logement vers ledit support d'échantillon, par fixation du support d'échantillons, et par traction dudit support le long de la surface fonctionnelle, lorsque lesdits logements sont déplacés à une vitesse constante par la courroie. |
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