METHOD OF MANUFACTURING A SEMICONDUCTOR NON-VOLATILE MEMORY

Method of manufacturing a semiconductor device comprising a semiconductor body (1) which is provided at a surface (2) with a non-volatile memory comprising a memory cell with a gate structure (4) with an access gate (19) and a gate structure (3) with a control gate (5) and a charge storage region si...

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Hauptverfasser: SLOTBOOM, MICHIEL, WIDDERSHOVEN, FRANCISCUS, P
Format: Patent
Sprache:eng ; fre
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Beschreibung
Zusammenfassung:Method of manufacturing a semiconductor device comprising a semiconductor body (1) which is provided at a surface (2) with a non-volatile memory comprising a memory cell with a gate structure (4) with an access gate (19) and a gate structure (3) with a control gate (5) and a charge storage region situated between the control gate (5) and the semiconductor body (1), such as a floating gate (6). In this method on the surface (2) of the semiconductor body (1) a first one of said gate structures is formed with side walls (10) extending substantially perpendicular to the surface, a conductive layer is deposited (13) on and next to said first gate-structure, the conductive layer is subjected to a planarizing treatment until the first gate structure is exposed and the so planarized conductive layer is patterned so as to form at least a part of the other gate structure adjoining the first gate structure. Said patterning of the planarized conductive layer is performed in that the planarized conductive layer (14) is etched back so as to expose an upper portion (15) of the side walls of the first gate structure, a spacer (18) is formed on the exposed upper portion (15) of the side walls of first gate structure and the conductive layer (16) is etched anisotropically using the spacer as a mask. Thus very small memory cells can be realized. L'invention concerne un procédé de fabrication d'un dispositif semi-conducteur comprenant un corps semi-conducteur (1) situé sur une surface (2) pourvue d'une mémoire non volatile renfermant, d'une part, une cellule de mémoire avec une structure de grille (4) à grille d'accès (19) et une structure de grille (3) à grille de commande (5) et, d'autre part, une zone de stockage de charge, telle qu'une grille flottante (6), située entre la grille de commande (5) et le corps semi-conducteur (1). Selon ce procédé, à la surface (2) du corps semi-conducteur (1), une première structure desdites structures de grille est formée avec des parois latérales (10) s'étendant pratiquement perpendiculairement à la surface, une couche conductrice est formée par dépôt (13) sur la structure de grille et à proximité de celle-ci, la couche conductrice est soumise à un traitement de planarisation, jusqu'à ce que la première structure de grille soit exposée, et la couche conductrice ainsi planarisée est imprimée de manière à former au moins une partie de l'autre structure de grille adjacente à la première structure de grille. Cette impression de la couche cond