DEVICE AND METHOD FOR OPTICAL MEASUREMENT OF SMALL PARTICLES SUCH AS GRAINS FROM CEREALS AND LIKE CROPS
A method and device for optical measuring of small particles for analysis of the quality of the particles. A sample-feeding carrier (2) is adpated to take up particle samples in sample holders (6) and transport the particle samples to a place foroptical measurement. A mirror-supporting means (3) fol...
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Format: | Patent |
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Zusammenfassung: | A method and device for optical measuring of small particles for analysis of the quality of the particles. A sample-feeding carrier (2) is adpated to take up particle samples in sample holders (6) and transport the particle samples to a place foroptical measurement. A mirror-supporting means (3) follows the movement of the carrier (2) and has mirrors (7) matching the sample holders (6). A device illuminates a particle sample when positioned foroptical measurement and a detector, which is sensitive to electromagnetic radiation, records a result of optical measurement of the illuminated particle sample. A mirror (7) reflects the particle sample, so that a mirror image thereof stands essentially still seen from the detector, when a measurement is being recorded, owing to the fact that the mirror image of the particle sample falls on a center axis of the movement of the mirror-supporting means.
L'invention concerne un procédé et un dispositif de mesure optique de petites particules pour l'analyse de la qualité des particules. Un support d'alimentation en échantillon (2) est conçu pour prendre des échantillons de particules dans des porte-échantillons (6) et transporter ces échantillons de particules jusqu'à un emplacement de mesure optique. Un moyen porte-miroir (3) suit le mouvement du support (2) et a des miroirs (7) correspondant aux porte-échantillons (6). Un dispositif éclaire un échantillon de particules lorsqu'il est positionné pour une mesure optique et un détecteur qui est sensible aux rayons électromagnétiques et qui enregistre un résultat de mesure optique d'un échantillon de particules éclairées. Un miroir (7) reflète l'échantillon de particules de telle façon que son image miroir reste sensiblement immobile vu du détecteur, lorsqu'une mesure est en cours d'enregistrement, puisque l'image miroir de l'échantillon de particules tombe sur un axe central du mouvement du moyen porte-miroir. |
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