SYSTEM OF FABRICATING PLANE PARALLEL SUBSTRATES WITH UNIFORM OPTICAL PATHS

Process and apparatus for automated production of optical devices comprising two plane parallel optical surfaces of a desired optical (50) performance for transmitted light, by measuring and quantifying the spectral response of intensity versus wavelength across the working surface area of a starter optical device as compared to an acceptable computer model (100), as a three dimensional contour map of optical thickness based on the assumption of a constant index of refraction, then reducing the high spots by automated means such as polishing, and measuring the spectral response again. La présente invention concerne un procédé et un appareil de production automatique de dispositifs optiques constitués de deux surfaces optiques parallèles planes et caractérisés par une qualité optique prédéterminée (50) pour la lumière transmise. Ce procédé consiste à mesurer et à quantifier la réponse spectrale de l'intensité en fonction de la longueur d'onde dans la surface de travail d'un dispositif optique de démarrage par rapport à un modèle d'ordinateur acceptable (100), comme par exemple une carte de contour tridimensionnelle d'épaisseur optique reposant sur l'hypothèse d'un indice de réfraction constant, puis à réduire les points culminants par des moyens automatiques, tels que le polissage, et enfin, à mesurer de nouveau la réponse spectrale.