METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING BIREFRINGENT PARTICLES

A method and apparatus for measuring birefringent particles is provided comprising a source lamp (1), a grating (2), a first polirizer (3) having a first transmission axis, a sample cell (4) and a second polarizer (5) having a second polarization axis. The second polarizer has a second polarization...

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	GUAY, CHRISTOPHER, K., H, BISHOP, JAMES, K., B
Format:	Patent
Sprache:	eng ; fre
Schlagworte:	INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES MEASURING OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS OPTICS PHYSICS TESTING
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Beschreibung
Zusammenfassung:	A method and apparatus for measuring birefringent particles is provided comprising a source lamp (1), a grating (2), a first polirizer (3) having a first transmission axis, a sample cell (4) and a second polarizer (5) having a second polarization axis. The second polarizer has a second polarization axis that is set to be perpendicular to the first polarization axis, and thereby blocks linearly polarized light with the orientation of the beam of light passing through the first polarizer. The beam of light passing through the second polarizer is measured using a detector (6). L'invention porte sur un procédé et un appareil de mesure de particules biréfringentes comprenant: une lampe source (1), un réseau (2), un premier polariseur (3) présentant un premier axe de transmission, une cellule échantillon (4) et un deuxième polariseur (5) présentant un deuxième axe de transmission. L'axe de transmission du deuxième polariseur, étant perpendiculaire à celui de premier, bloque la lumière polarisée linéairement ayant l'orientation du faisceau lumineux traversant le premier polariseur. Le faisceau lumineux traversant le deuxième polariseur se mesure à l'aide d'un détecteur (6).