INCLINOMETER AND USE OF A SEMICONDUCTOR SENSOR AS INCLINOMETER

Ein Neigungsmesser hat einen Halbleitersensor (2) mit einer kapazitiv empfindlichen Oberfläche (3). Im Bereich der Oberfläche (3) ist ein Behältnis (5) zur Aufnahme einer Messflüssigkeit (6) ausgeformt. Oberflächenbereiche der Oberfläche (3) werden selektiv danach abgetastet, wo die Oberfläche (3) mit der Messflüssigkeit (6) bedeckt ist. Eine Auswertungseinrichtung (13) bestimmt daraus die Lage und Orientierung der Oberfläche (8) der Messflüssigkeit (6) bezüglich der Oberfläche (3) des Halbleitersensors (1), die ein Mass für die Neigung des Neigungsmessers ist. The invention relates to a inclinometer which contains a semiconductor sensor (2) with a surface (3) that is sensitive in a capacitive manner. A container (5) for receiving a measuring liquid (6) is embodied in the surface (3) area. The surface areas of the surface (3) are selectively scanned in order to detect areas where the surface (3) is covered with the measuring liquid (6). Based on said results, an evaluation device (13) determines the position and orientation pertaining to the surface (8) of the measuring liquid (6) in relation to the surface (3) of the semiconductor sensor (1), whereby said surface is a measure for the inclination of the inclinometer. L'invention concerne un inclinomètre comportant un détecteur à semi-conducteur (2) avec une surface (3) à sensibilité capacitive. Un récipient (5) destiné à recevoir un liquide de mesure (6) est pratiqué dans la zone de la surface (3). Des zones superficielles de la surface (3) sont échantillonnées ensuite de manière sélective, là où la surface (3) est recouverte de liquide de mesure (6). Un dispositif d'évaluation établit sur la base des résultats, la position et l'orientation de la surface (3) du détecteur à semi-conducteur (1) qui constitue une mesure pour l'inclinaison de l'inclinomètre.