APPARATUS AND METHODS FOR SPECTROSCOPIC MEASUREMENTS

Apparatus and Methods for measuring light transmitted from a sample. The apparatus may include a stage (123), a light source (103a-103d), and a detector (145a-145d, 160). The stage (123) may be configured to hold a microplate (124) having a plurality of sample wells. The apparatus may be configured...

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	MODLIN, DOUGLAS, N, OWICKI, JOHN, C, PETERSEN, JON, F
Format:	Patent
Sprache:	eng ; fre
Schlagworte:	INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES MEASURING PHYSICS TESTING
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Beschreibung
Zusammenfassung:	Apparatus and Methods for measuring light transmitted from a sample. The apparatus may include a stage (123), a light source (103a-103d), and a detector (145a-145d, 160). The stage (123) may be configured to hold a microplate (124) having a plurality of sample wells. The apparatus may be configured to take measurements of one or more of absorbance, scattering, reflectance and luminescence. The apparatus may permit simultaneous measurements of two or more of these properties. L'invention concerne un appareil et des procédés permettant de mesurer la lumière émise par un échantillon. L'appareil de cette invention peut comprendre un support, une source lumineuse, et un détecteur, ledit support pouvant être conçu pour soutenir une microplaque pourvue de plusieurs réceptacles à échantillon. Cet appareil, qui peut être destiné à prendre des mesures d'une ou plusieurs grandeurs comme l'absorbance, la diffusion, le facteur de réflexion, et la luminescence, permet par ailleurs d'effectuer simultanément des mesures d'une ou plusieurs de ces propriétés.