TEMPERATURE-CORRECTED CONTROL DATA FOR VERIFYING OF STRUCTURAL INTEGRITY OF MATERIALS

The disclosure describes techniques for detecting a crack or defect in a material.

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Redinger, David H
Format: Patent
Sprache:eng
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Beschreibung
Zusammenfassung:The disclosure describes techniques for detecting a crack or defect in a material.