TIP-MOUNTED NANOWIRE LIGHT SOURCE INSTRUMENTATION

A scanning probe microscopy instrument includes a cantilevered tip that has a nanowire light emitting diode (LED).

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	WALLIS THOMAS M, BERTNESS KRISTINE A, SANFORD NORMAN A, KABOS PAVEL
Format:	Patent
Sprache:	eng
Schlagworte:	APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBEMICROSCOPY [SPM] MEASURING PHYSICS SCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS TESTING
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Beschreibung
Zusammenfassung:	A scanning probe microscopy instrument includes a cantilevered tip that has a nanowire light emitting diode (LED).