Ion Sources for Improved Ionization

Improved apparatuses and methods are provided for ionizing samples and analyzing the samples with mass spectrometry.

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	BERTSCH JAMES L, MORDEHAI ALEXANDER, WERLICH MARK H, LOVE CRAIG P
Format:	Patent
Sprache:	eng
Schlagworte:	BASIC ELECTRIC ELEMENTS ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS ELECTRICITY
Online-Zugang:	Volltext bestellen
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!

Beschreibung
Zusammenfassung:	Improved apparatuses and methods are provided for ionizing samples and analyzing the samples with mass spectrometry.