Semiconductor device having optimized shallow junction geometries and method for fabrication thereof
The present invention provides, in one embodiment, a method of fabricating a semiconductor device ( 100 ). The method comprises growing an oxide layer ( 120 ) on a gate structure ( 114 ) and a substrate ( 102 ) and implanting a dopant ( 124 ) into the substrate ( 102 ) and the oxide layer ( 120 ). I...
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Format: | Patent |
Sprache: | eng |
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