Probe station with low inductance path

A probe assembly suitable for high-current measurements of an electrical device.

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	COWAN CLARENCE E, DUNKLEE JOHN
Format:	Patent
Sprache:	eng
Schlagworte:	MEASURING MEASURING ELECTRIC VARIABLES MEASURING MAGNETIC VARIABLES PHYSICS TESTING
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Beschreibung
Zusammenfassung:	A probe assembly suitable for high-current measurements of an electrical device.