PROCESS OF DETERMINATION OF HEAT CONDUCTIVITY OF SEMICONDUCTOR MATERIAL

A process of determination of heat conductivity of semiconductor material includes placement of the test sample with known geometrical dimensions in measuring thermostat, switch on of resistive heater for formation of temperature gradient along the sample, with measuring system coming to stationary...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: ANATYCHUK LUKIAN IVANOVYCH, LYSKO VALENTYN VALERIIOVYCH
Format: Patent
Sprache:eng ; rus ; ukr
Schlagworte:
Online-Zugang:Volltext bestellen
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Beschreibung
Zusammenfassung:A process of determination of heat conductivity of semiconductor material includes placement of the test sample with known geometrical dimensions in measuring thermostat, switch on of resistive heater for formation of temperature gradient along the sample, with measuring system coming to stationary mode and measurement of electric power of heater and temperature drop on the sample. At transition of measuring system to stationary mode through the sample under investigation alternating current is temporarily passed. Процесс определения теплопроводности полупроводникового материала состоит из размещения исследуемого образца известных геометрических размеров в измерительном термостате, включения резистивного нагревателя для создания градиента температуры вдоль образца, выхода измерительной системы в стационарный режим и измерения электрической мощности нагревателя и перепада температур на образце. Во время выхода измерительной системы в стационарный режим временно через исследуемый образец пропускают переменный ток. Процес визначення теплопровідності напівпровідникового матеріалу складається з розміщення досліджуваного зразка відомих геометричних розмірів у вимірювальному термостаті, включення резистивного нагрівника для створення градієнту температури вздовж зразка, виходу вимірювальної системи в стаціонарний режим та вимірювання електричної потужності нагрівника і перепаду температур на зразку. Під час виходу вимірювальної системи в стаціонарний режим тимчасово через досліджуваний зразок пропускають змінний струм.