METHOD FOR THE DETERMINATION OF PIEZOOPTIC CONSTANTS

A polarimetric method for measurement of piezooptic constants consists in measurement of difference of phases of light waves that pass through the specimen and the angle of turn of optical indicatrix induced by mechanical stress. The crystalline specimen under investigation is made as a disc oriente...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: SAVARYN VIKTORIA IVANIVNA, VLOKH ROSTYSLAV ORESTOVYCH, VASYLKIV YURII VASYLIOVYCH, KRUPYCH OLEH MYKOLAIOVYCH, SKAB IHOR PETROVYCH
Format: Patent
Sprache:eng ; rus ; ukr
Schlagworte:
Online-Zugang:Volltext bestellen
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Beschreibung
Zusammenfassung:A polarimetric method for measurement of piezooptic constants consists in measurement of difference of phases of light waves that pass through the specimen and the angle of turn of optical indicatrix induced by mechanical stress. The crystalline specimen under investigation is made as a disc oriented in given way with respect to coordinate system of material under investigation related to optical indicatrix, and mechanical tension is applied through compression of disc along its diameter. Поляриметрический метод измерения пьезооптических коэффициентов состоит в измерении разности фаз световых волн, которые прошли через образец, и угла поворота оптической индикатрисы, индуцированных механическим напряжением, причем исследуемый кристаллический образец изготавливается в форме диска, ориентированного определенным образом относительно связанной с оптической индикатрисой системы координат исследуемого материала, а механическое напряжение прикладывается путем сжатия диска вдоль его диаметра. Поляриметричний метод вимірювання п'єзооптичних коефіцієнтів полягає у вимірюванні різниці фаз світлових хвиль, які пройшли крізь зразок, та кута повороту оптичної індикатриси індукованих механічним напруженням, причому досліджуваний кристалічний зразок виготовляється у формі диска орієнтованого певним чином до пов'язаної з оптичною індикатрисою системою координат досліджуваного матеріалу, а механічне напруження прикладається шляхом стиснення диску вздовж його діаметра.