INSTALLATION FOR MEASURING A FORCE DISTRIBUTION COEFFICIENT OF LIGHT-REFLECTIVE SURFACES
An installation for measuring a force distribution coefficient of light-reflective surfaces comprises a slewing table, a light source type A (with color temperature 2854 K), a fotoreceiving head adjust as an eye visibility curve positioned at the corresponding bracket, candle power meter, an alignme...
Gespeichert in:
Hauptverfasser: | , , |
---|---|
Format: | Patent |
Sprache: | eng ; rus ; ukr |
Schlagworte: | |
Online-Zugang: | Volltext bestellen |
Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
Zusammenfassung: | An installation for measuring a force distribution coefficient of light-reflective surfaces comprises a slewing table, a light source type A (with color temperature 2854 K), a fotoreceiving head adjust as an eye visibility curve positioned at the corresponding bracket, candle power meter, an alignment mirror and a power mirror. An illuminator comprises an amperemeter, an auxiliary optical system for adjustment thereof and a faint lighting candle power meter.A light intensity distribution coefficient of light reflecting surfaces K is determined according expression:WhereBrightnessEbrightness measured by the faint lighting candle power meter, lkEbrightness measured in a plane of test sample measured by an auxiliary candle power meter, lkL- distance between a test sample and a photometer head of the faint lighting candle power meter, mA- exposed aria of test sample, m.
Установка для измерения удельного коэффициента силы со светоотражающих поверхностей содержит поворотный стол, источник света типа А ( с цветной температурой 2854 К), фотоприемную головку, корректированную под кривую видимости глаза, расположенную на соответствующем кронштейне, люксметр, юстировочное зеркало и блок питания. Осветитель содержит амперметр, дополнительную оптическую систему для его юстирования и люксметр слабых освещенностей. Удельный коэффициент силы света светоотражающих поверхностей К определяется по формуле:гдеЕ- освещенность, измеренная люксметром слабых освещенностей, лк;Е- освещенность, измеренная в плоскости исследуемого образца дополнительным люксметром, лк;L - расстояние между исследуемым образцом и фотометрической головкой люксметра слабых освещенностей, м;А - засвеченная площадь иссл
Установка для вимірювання питомого коефіцієнта сили світла світловідбивних поверхонь містить поворотний стіл, джерело світла типу А (з кольоровою температурою 2854 К), фотоприймальну головку, кореговану під криву видності ока, розташовану на відповідному кронштейні, люксметр, юстувальне дзеркало та блок живлення. Освітлювач містить амперметр, додаткову оптичну систему для його юстування та люксметр слабких освітленостей. Питомий коефіцієнт сили світла світловідбивних поверхонь К визначається за формулою:деЕ- освітленість, виміряна люксметром слабких освітленостей, лк;Е- освітленість, виміряна в площині досліджуваного зразка додатковим люксметром, лк;L - відстань між досліджуваним зразком та фотометричною головкою люксметра слабких освітленостей, м;А - засвічена площа досліджуваного зразка, |
---|