METHOD FOR MEASUREMENT OF MICROSCOPIC STRUCTURES

Method for measurement of microscopic structures includes measurement of digital images of those. Dimensions of digital images are preliminarily corrected, according to standard on image of object-micrometer, and calculations are carried out by means of available software, this makes it possible to...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	SILKINA YULIYA VALERIIVNA, KHRIPKOV IHOR SERHIIOVYCH, MURASHKINA DARIA HRYHORIVNA, HORBUNOV ANDRII OLEKSANDROVYCH, TVERDOKHLIB IHOR VOLODYMYROVYCH, POTOTSKA OLHA YURIIVNA
Format:	Patent
Sprache:	eng ; rus ; ukr
Schlagworte:	INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIRCHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES MEASURING PHYSICS TESTING
Online-Zugang:	Volltext bestellen
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!

Beschreibung
Zusammenfassung:	Method for measurement of microscopic structures includes measurement of digital images of those. Dimensions of digital images are preliminarily corrected, according to standard on image of object-micrometer, and calculations are carried out by means of available software, this makes it possible to measure linear parameters of image in pixels. Способ измерения микроскопических структур включает измерение их цифровых изображений. Размеры цифровых изображений предварительно корректируют, соответственно мерилу на изображении объекта-микрометра, а вычисления осуществляют с помощью доступного программного обеспечения, что дает возможность измерять линейные параметры изображения в пикселях. Спосіб вимірювання мікроскопічних структур включає вимірювання їх цифрових зображень. Розміри цифрових зображень попередньо корегують, відповідно мірилу на зображенні об'єкта-мікрометра, а обчислювання здійснюють за допомогою доступного програмного забезпечення, що дозволяє вимірювати лінійні параметри в пікселах зображення.