The device for determining the thickness of the film-forming layers on static substrates

The device for determining the thickness of the film-forming layers on static substrates

Прилад для визначення товщини шарів плівкоутворення на статичних підкладках складається з резервуара постійного рівня рідини, на днищі якого виконано щонайменше один отвір і до якого приєднаний плоский змінний плівкоутворювач, електроконтактного пристрою, який складається з мікрометра з голкою, яка...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: Kolinko Ivan Serhiyovych, Badalian Anna Yu, Trofymenko Pavlo Evgenovich, Naida Maksym Vasyliovych, Goncharova Svitlana Anatolyivna, Goncharov Oleksandr Andriyovych, Khomenko Oleksiy Vitaliyovych
Format: Patent
Sprache:eng ; ukr
Online-Zugang:Volltext bestellen
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
container_end_page
container_issue
container_start_page
container_title
container_volume
creator Kolinko Ivan Serhiyovych
Badalian Anna Yu
Trofymenko Pavlo Evgenovich
Naida Maksym Vasyliovych
Goncharova Svitlana Anatolyivna
Goncharov Oleksandr Andriyovych
Khomenko Oleksiy Vitaliyovych
description Прилад для визначення товщини шарів плівкоутворення на статичних підкладках складається з резервуара постійного рівня рідини, на днищі якого виконано щонайменше один отвір і до якого приєднаний плоский змінний плівкоутворювач, електроконтактного пристрою, який складається з мікрометра з голкою, яка може переміщуватися по висоті та індикатора змінного струму. Мікрометр жорстко закріплений до днища резервуара постійного рівня рідини та розміщений під прямим кутом до плоского змінного плівкоутворювача.
format Patent
fullrecord <record><control><sourceid>epo_EVB</sourceid><recordid>TN_cdi_epo_espacenet_UA153194UU</recordid><sourceformat>XML</sourceformat><sourcesystem>PC</sourcesystem><sourcerecordid>UA153194UU</sourcerecordid><originalsourceid>FETCH-epo_espacenet_UA153194UU3</originalsourceid><addsrcrecordid>eNqFijsOwjAQBdNQIOAM7AVSRIGCEiEQB4glusiYZ2LFn8i7IHF7DKKneqM3M68u3QC64ekMyKZcUJCDiy7eSYqSwZkxgpmS_R7W-VCXMnwKr1_IRUVi0eIM8ePKkrWAl9XMas9Y_XZRrU_H7nCuMaUePGmDCOnVvtm2zW6jVPu_eAO7RToC</addsrcrecordid><sourcetype>Open Access Repository</sourcetype><iscdi>true</iscdi><recordtype>patent</recordtype></control><display><type>patent</type><title>The device for determining the thickness of the film-forming layers on static substrates</title><source>esp@cenet</source><creator>Kolinko Ivan Serhiyovych ; Badalian Anna Yu ; Trofymenko Pavlo Evgenovich ; Naida Maksym Vasyliovych ; Goncharova Svitlana Anatolyivna ; Goncharov Oleksandr Andriyovych ; Khomenko Oleksiy Vitaliyovych</creator><creatorcontrib>Kolinko Ivan Serhiyovych ; Badalian Anna Yu ; Trofymenko Pavlo Evgenovich ; Naida Maksym Vasyliovych ; Goncharova Svitlana Anatolyivna ; Goncharov Oleksandr Andriyovych ; Khomenko Oleksiy Vitaliyovych</creatorcontrib><description>Прилад для визначення товщини шарів плівкоутворення на статичних підкладках складається з резервуара постійного рівня рідини, на днищі якого виконано щонайменше один отвір і до якого приєднаний плоский змінний плівкоутворювач, електроконтактного пристрою, який складається з мікрометра з голкою, яка може переміщуватися по висоті та індикатора змінного струму. Мікрометр жорстко закріплений до днища резервуара постійного рівня рідини та розміщений під прямим кутом до плоского змінного плівкоутворювача.</description><language>eng ; ukr</language><creationdate>2023</creationdate><oa>free_for_read</oa><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktohtml>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20230531&amp;DB=EPODOC&amp;CC=UA&amp;NR=153194U$$EHTML$$P50$$Gepo$$Hfree_for_read</linktohtml><link.rule.ids>230,308,780,885,25563,76418</link.rule.ids><linktorsrc>$$Uhttps://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?FT=D&amp;date=20230531&amp;DB=EPODOC&amp;CC=UA&amp;NR=153194U$$EView_record_in_European_Patent_Office$$FView_record_in_$$GEuropean_Patent_Office$$Hfree_for_read</linktorsrc></links><search><creatorcontrib>Kolinko Ivan Serhiyovych</creatorcontrib><creatorcontrib>Badalian Anna Yu</creatorcontrib><creatorcontrib>Trofymenko Pavlo Evgenovich</creatorcontrib><creatorcontrib>Naida Maksym Vasyliovych</creatorcontrib><creatorcontrib>Goncharova Svitlana Anatolyivna</creatorcontrib><creatorcontrib>Goncharov Oleksandr Andriyovych</creatorcontrib><creatorcontrib>Khomenko Oleksiy Vitaliyovych</creatorcontrib><title>The device for determining the thickness of the film-forming layers on static substrates</title><description>Прилад для визначення товщини шарів плівкоутворення на статичних підкладках складається з резервуара постійного рівня рідини, на днищі якого виконано щонайменше один отвір і до якого приєднаний плоский змінний плівкоутворювач, електроконтактного пристрою, який складається з мікрометра з голкою, яка може переміщуватися по висоті та індикатора змінного струму. Мікрометр жорстко закріплений до днища резервуара постійного рівня рідини та розміщений під прямим кутом до плоского змінного плівкоутворювача.</description><fulltext>true</fulltext><rsrctype>patent</rsrctype><creationdate>2023</creationdate><recordtype>patent</recordtype><sourceid>EVB</sourceid><recordid>eNqFijsOwjAQBdNQIOAM7AVSRIGCEiEQB4glusiYZ2LFn8i7IHF7DKKneqM3M68u3QC64ekMyKZcUJCDiy7eSYqSwZkxgpmS_R7W-VCXMnwKr1_IRUVi0eIM8ePKkrWAl9XMas9Y_XZRrU_H7nCuMaUePGmDCOnVvtm2zW6jVPu_eAO7RToC</recordid><startdate>20230531</startdate><enddate>20230531</enddate><creator>Kolinko Ivan Serhiyovych</creator><creator>Badalian Anna Yu</creator><creator>Trofymenko Pavlo Evgenovich</creator><creator>Naida Maksym Vasyliovych</creator><creator>Goncharova Svitlana Anatolyivna</creator><creator>Goncharov Oleksandr Andriyovych</creator><creator>Khomenko Oleksiy Vitaliyovych</creator><scope>EVB</scope></search><sort><creationdate>20230531</creationdate><title>The device for determining the thickness of the film-forming layers on static substrates</title><author>Kolinko Ivan Serhiyovych ; Badalian Anna Yu ; Trofymenko Pavlo Evgenovich ; Naida Maksym Vasyliovych ; Goncharova Svitlana Anatolyivna ; Goncharov Oleksandr Andriyovych ; Khomenko Oleksiy Vitaliyovych</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-epo_espacenet_UA153194UU3</frbrgroupid><rsrctype>patents</rsrctype><prefilter>patents</prefilter><language>eng ; ukr</language><creationdate>2023</creationdate><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>Kolinko Ivan Serhiyovych</creatorcontrib><creatorcontrib>Badalian Anna Yu</creatorcontrib><creatorcontrib>Trofymenko Pavlo Evgenovich</creatorcontrib><creatorcontrib>Naida Maksym Vasyliovych</creatorcontrib><creatorcontrib>Goncharova Svitlana Anatolyivna</creatorcontrib><creatorcontrib>Goncharov Oleksandr Andriyovych</creatorcontrib><creatorcontrib>Khomenko Oleksiy Vitaliyovych</creatorcontrib><collection>esp@cenet</collection></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext_linktorsrc</fulltext></delivery><addata><au>Kolinko Ivan Serhiyovych</au><au>Badalian Anna Yu</au><au>Trofymenko Pavlo Evgenovich</au><au>Naida Maksym Vasyliovych</au><au>Goncharova Svitlana Anatolyivna</au><au>Goncharov Oleksandr Andriyovych</au><au>Khomenko Oleksiy Vitaliyovych</au><format>patent</format><genre>patent</genre><ristype>GEN</ristype><title>The device for determining the thickness of the film-forming layers on static substrates</title><date>2023-05-31</date><risdate>2023</risdate><abstract>Прилад для визначення товщини шарів плівкоутворення на статичних підкладках складається з резервуара постійного рівня рідини, на днищі якого виконано щонайменше один отвір і до якого приєднаний плоский змінний плівкоутворювач, електроконтактного пристрою, який складається з мікрометра з голкою, яка може переміщуватися по висоті та індикатора змінного струму. Мікрометр жорстко закріплений до днища резервуара постійного рівня рідини та розміщений під прямим кутом до плоского змінного плівкоутворювача.</abstract><oa>free_for_read</oa></addata></record>
fulltext fulltext_linktorsrc
identifier
ispartof
issn
language eng ; ukr
recordid cdi_epo_espacenet_UA153194UU
source esp@cenet
title The device for determining the thickness of the film-forming layers on static substrates
url https://sfx.bib-bvb.de/sfx_tum?ctx_ver=Z39.88-2004&ctx_enc=info:ofi/enc:UTF-8&ctx_tim=2025-01-08T10%3A16%3A21IST&url_ver=Z39.88-2004&url_ctx_fmt=infofi/fmt:kev:mtx:ctx&rfr_id=info:sid/primo.exlibrisgroup.com:primo3-Article-epo_EVB&rft_val_fmt=info:ofi/fmt:kev:mtx:patent&rft.genre=patent&rft.au=Kolinko%20Ivan%20Serhiyovych&rft.date=2023-05-31&rft_id=info:doi/&rft_dat=%3Cepo_EVB%3EUA153194UU%3C/epo_EVB%3E%3Curl%3E%3C/url%3E&disable_directlink=true&sfx.directlink=off&sfx.report_link=0&rft_id=info:oai/&rft_id=info:pmid/&rfr_iscdi=true