The device for determining the thickness of the film-forming layers on static substrates
Прилад для визначення товщини шарів плівкоутворення на статичних підкладках складається з резервуара постійного рівня рідини, на днищі якого виконано щонайменше один отвір і до якого приєднаний плоский змінний плівкоутворювач, електроконтактного пристрою, який складається з мікрометра з голкою, яка...
Gespeichert in:
| Hauptverfasser: | , , , , , , |
|---|---|
| Format: | Patent |
| Sprache: | eng ; ukr |
| Online-Zugang: | Volltext bestellen |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Zusammenfassung: | Прилад для визначення товщини шарів плівкоутворення на статичних підкладках складається з резервуара постійного рівня рідини, на днищі якого виконано щонайменше один отвір і до якого приєднаний плоский змінний плівкоутворювач, електроконтактного пристрою, який складається з мікрометра з голкою, яка може переміщуватися по висоті та індикатора змінного струму. Мікрометр жорстко закріплений до днища резервуара постійного рівня рідини та розміщений під прямим кутом до плоского змінного плівкоутворювача. |
|---|